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测试治具

被引：0
申请号：
CN202230555030.4
申请日：
2022-08-24
公开(公告)号：
CN307717765S
公开(公告)日：
2022-12-09
发明(设计)人：
韩璧丞 李晓
申请人：
申请人地址：
310000 浙江省杭州市余杭区余杭街道文一西路1818-2号1幢201-5室
IPC主分类号：
1005
IPC分类号：
代理机构：
深圳市君胜知识产权代理事务所(普通合伙) 44268
代理人：
孙果
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2022-12-09 授权 授权
共 50 条
[1]
测试治具 [P]. 
周书宇 .
中国专利 :CN305187118S ,2019-05-31
[2]
测试治具 [P]. 
聂念玲 .
中国专利 :CN302788251S ,2014-04-09
[3]
测试治具 [P]. 
杨滨 .
中国专利 :CN304825133S ,2018-09-21
[4]
测试治具 [P]. 
黎军明 ;
黄健林 ;
覃有山 ;
梁勇 ;
罗德锋 ;
李城春 .
中国专利 :CN307846352S ,2023-02-17
[5]
测试治具 [P]. 
陈乾 .
中国专利 :CN308483457S ,2024-02-23
[6]
测试治具 [P]. 
韩璧丞 ;
李晓 .
中国专利 :CN307797207S ,2023-01-17
[7]
测试治具 [P]. 
陈其伟 .
中国专利 :CN304413453S ,2017-12-19
[8]
阻抗测试治具 [P]. 
向军 ;
郭伟 ;
马征 .
中国专利 :CN308545505S ,2024-03-29
[9]
PCB测试治具 [P]. 
曾双青 .
中国专利 :CN305945869S ,2020-07-28
[10]
键盘测试治具 [P]. 
蒋海军 ;
刘利刚 .
中国专利 :CN307697164S ,2022-11-29
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