测试方法、装置、设备及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202111507505.3

申请日：

2021-12-10

公开(公告)号：

CN114253781A

公开(公告)日：

2022-03-29

发明(设计)人：

李信德郑倩冰袁三燕赵宏阳吴彤韦昌政刘勇鹏

申请人：

申请人地址：

300450 天津市滨海新区海洋高新技术开发区信安创业广场５号楼

IPC主分类号：

G06F1122

IPC分类号：

G06F1134

代理机构：

北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463

代理人：

王思楠

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-04-15	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 11/22 申请日:20211210
2022-03-29	公开	公开

共 50 条

[1]

测试设备、测试方法、装置、设备及存储介质 [P].

刘启飞 .

中国专利 :CN120712491A ,2025-09-26

[2]

测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

何木来 ;

刘素华 ;

彭广毫 .

中国专利 :CN118093444B ,2024-08-02

[3]

测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

何木来 ;

刘素华 ;

彭广毫 .

中国专利 :CN118093444A ,2024-05-28

[4]

射频测试方法、装置、测试设备及存储介质 [P].

陈传锋 .

中国专利 :CN109195172A ,2019-01-11

[5]

设备测试方法、装置、设备及可读存储介质 [P].

孙天宇 .

中国专利 :CN118819976A ,2024-10-22

[6]

通信方法、装置、测试设备及存储介质 [P].

陈熙 ;

马雪振 ;

陈林 .

中国专利 :CN118377659A ,2024-07-23

[7]

应用测试方法、装置、设备及存储介质 [P].

王顺 ;

何泳琳 ;

赵飞洲 ;

邓安鑫 ;

田广明 ;

万仁俊 .

中国专利 :CN114579473A ,2022-06-03

[8]

蓝牙测试方法、测试装置、测试设备及存储介质 [P].

黄光华 .

中国专利 :CN119109528A ,2024-12-10

[9]

芯片质量测试方法、装置、测试设备及存储介质 [P].

禹乾勋 .

中国专利 :CN118467517A ,2024-08-09

[10]

显示性能测试方法、装置、测试设备及存储介质 [P].

赵代碧 ;

雒晓莉 ;

石峰 ;

张志超 ;

王瑞 ;

何海波 ;

黄浩 .

中国专利 :CN113838397A ,2021-12-24

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