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应用测试方法、装置、设备及存储介质

被引：0
申请号：
CN202210496233.X
申请日：
2022-05-09
公开(公告)号：
CN114579473A
公开(公告)日：
2022-06-03
发明(设计)人：
王顺 何泳琳 赵飞洲 邓安鑫 田广明 万仁俊
申请人：
申请人地址：
518048 广东省深圳市福田区新洲路立交桥西北侧新洲广场华丰大厦第3层B1-A
IPC主分类号：
G06F1136
IPC分类号：
代理机构：
华进联合专利商标代理有限公司 44224
代理人：
姜晓云
法律状态：
公开
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2022-06-03 公开 公开
2022-06-21 实质审查的生效 实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 11/36 申请日:20220509
2022-09-02 授权 授权
共 50 条
[1]
应用测试方法、装置、应用测试设备和存储介质 [P]. 
曲乐炜 .
中国专利 :CN112182581A ,2021-01-05
[2]
测试设备、测试方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
刘启飞 .
中国专利 :CN120712491A ,2025-09-26
[3]
应用测试方法、设备、存储介质及装置 [P]. 
刘晓佳 .
中国专利 :CN118152252A ,2024-06-07
[4]
应用程序测试方法、测试设备及存储介质 [P]. 
范亚平 .
中国专利 :CN118227496A ,2024-06-21
[5]
测试方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
李信德 ;
郑倩冰 ;
袁三燕 ;
赵宏阳 ;
吴彤 ;
韦昌政 ;
刘勇鹏 .
中国专利 :CN114253781A ,2022-03-29
[6]
设备测试方法、装置、设备及可读存储介质 [P]. 
孙天宇 .
中国专利 :CN118819976A ,2024-10-22
[7]
产品测试方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
苏现周 ;
李文秀 .
中国专利 :CN118503120A ,2024-08-16
[8]
通信方法、装置、测试设备及存储介质 [P]. 
陈熙 ;
马雪振 ;
陈林 .
中国专利 :CN118377659A ,2024-07-23
[9]
芯片测试方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
丁赛赛 ;
仰蕾 ;
熊世英 ;
封芳 ;
许崇 .
中国专利 :CN115437866A ,2022-12-06
[10]
仿真测试方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
张雨 .
中国专利 :CN119322738A ,2025-01-17
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