SLD器件可靠性评估方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201510330182.3

申请日：

2015-06-15

公开(公告)号：

CN104914373B

公开(公告)日：

2015-09-16

发明(设计)人：

史典阳李海军聂国建任艳周军连于迪

申请人：

申请人地址：

510610 广东省广州市天河区东莞庄路110号

IPC主分类号：

G01R3126

IPC分类号：

代理机构：

广州华进联合专利商标代理有限公司 44224

代理人：

周清华

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2017-10-20	授权	授权
2015-10-14	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101629187040 IPC(主分类):G01R 31/26 专利申请号:2015103301823 申请日:20150615
2015-09-16	公开	公开

共 50 条

[1]

MEMS可靠性评估方法 [P].

任艳 .

中国专利 :CN104915558B ,2015-09-16

[2]

功率器件栅氧化层可靠性评估方法 [P].

和巍巍 ;

汪之涵 ;

唐宏浩 .

中国专利 :CN115684859A ,2023-02-03

[3]

MMC功率模块的关键器件可靠性评估方法和装置 [P].

潘广泽 ;

罗琴 ;

李小兵 ;

黄创绵 ;

王远航 ;

成克强 ;

杨剑锋 ;

刘文威 ;

丁小健 ;

董成举 .

中国专利 :CN109856483B ,2019-06-07

[4]

MLCC器件可靠性快速评估方法、系统、设备及介质 [P].

毕道广 ;

张蕾 ;

付振晓 ;

曹秀华 ;

于淑会 ;

胡春元 ;

孙蓉 .

中国专利 :CN115480118A ,2022-12-16

[5]

测量方法及测量系统、器件可靠性的评估方法及评估系统 [P].

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN119716437A ,2025-03-28

[6]

一种GaN基HEMT器件的可靠性评估方法 [P].

赵妙 ;

王鑫华 ;

刘新宇 ;

郑英奎 ;

李艳奎 ;

欧阳思华 ;

魏珂 .

中国专利 :CN102338846A ,2012-02-01

[7]

隔离器件可靠性检测方法及检测装置 [P].

牛刚 ;

赵晓东 ;

郭炜 ;

张金萍 ;

高燕 ;

张琛 ;

黄永莲 .

中国专利 :CN121186551A ,2025-12-23

[8]

提高SONOS闪存器件可靠性的方法 [P].

林钢 .

中国专利 :CN102005415A ,2011-04-06

[9]

一种基于瞬态热过程的器件可靠性评估方法 [P].

陈琼 ;

刘勇 ;

祁国潮 ;

陈佳 ;

张帅 .

中国专利 :CN119203542A ,2024-12-27

[10]

一种半导体制冷器件可靠性快速评估方法 [P].

宋晓辉 ;

李金东 ;

张鹏飞 ;

金贝贝 ;

张景双 ;

张伟 .

中国专利 :CN118313215B ,2025-02-14

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