芯片同步测试方法、芯片、电子设备及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201910124555.X

申请日：

2019-02-19

公开(公告)号：

CN111579973A

公开(公告)日：

2020-08-25

发明(设计)人：

付常君冯春忆

申请人：

申请人地址：

518045 广东省深圳市福田保税区腾飞工业大厦B座13层

IPC主分类号：

G01R313185

IPC分类号：

代理机构：

北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205

代理人：

张子青;刘芳

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-09-18	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/3185 申请日:20190219
2020-08-25	公开	公开
2022-03-08	授权	授权

共 50 条

[1]

时间同步测试方法、电子设备及存储介质 [P].

杜永振 ;

易纲 ;

张晓龙 ;

郭迪军 ;

奚杨 .

中国专利 :CN117997463A ,2024-05-07

[2]

数据同步测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

刘峰 .

中国专利 :CN115017054A ,2022-09-06

[3]

芯片同步测试装置及芯片同步测试方法 [P].

徐靖林 ;

魏斌 ;

成嵩 ;

杜鹏程 ;

窦志军 ;

王栋 .

中国专利 :CN112130061B ,2024-04-26

[4]

芯片同步测试装置及芯片同步测试方法 [P].

徐靖林 ;

魏斌 ;

成嵩 ;

杜鹏程 ;

窦志军 ;

王栋 .

中国专利 :CN112130061A ,2020-12-25

[5]

芯片、芯片测试方法、电子设备以及存储介质 [P].

孙晨岳 ;

王中波 ;

高国重 .

中国专利 :CN118567919A ,2024-08-30

[6]

测试方法、芯片、电子设备及存储介质 [P].

丁文轩 ;

蔡雅平 .

中国专利 :CN115640182A ,2023-01-24

[7]

测试方法、电子设备、存储介质及芯片 [P].

丁高珂 .

中国专利 :CN118354063B ,2024-11-22

[8]

测试方法、电子设备、存储介质及芯片 [P].

丁高珂 .

中国专利 :CN118354063A ,2024-07-16

[9]

芯片、芯片压力测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

丁雨 ;

刘庚路 ;

黄海峰 ;

徐宁仪 .

中国专利 :CN113884857B ,2024-03-08

[10]

芯片、芯片压力测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

丁雨 ;

刘庚路 ;

黄海峰 ;

徐宁仪 .

中国专利 :CN113884857A ,2022-01-04

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