芯片、芯片压力测试方法、装置、电子设备及存储介质

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202111151275.1
申请日
2021-09-29
公开(公告)号
CN113884857A
公开(公告)日
2022-01-04
发明(设计)人
丁雨 刘庚路 黄海峰 徐宁仪
申请人
申请人地址
200235 上海市徐汇区永嘉路698号518室
IPC主分类号
G01R3128
IPC分类号
代理机构
北京中知恒瑞知识产权代理事务所(普通合伙) 11889
代理人
吴迪
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
芯片、芯片压力测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
丁雨 ;
刘庚路 ;
黄海峰 ;
徐宁仪 .
中国专利 :CN113884857B ,2024-03-08
[2]
芯片、芯片测试方法、电子设备以及存储介质 [P]. 
孙晨岳 ;
王中波 ;
高国重 .
中国专利 :CN118567919A ,2024-08-30
[3]
芯片测试方法、装置、存储介质及电子设备 [P]. 
李振贤 ;
穆剑昇 ;
张一帆 .
中国专利 :CN119758044A ,2025-04-04
[4]
芯片测试方法、装置、存储介质及电子设备 [P]. 
李振贤 ;
穆剑昇 ;
张一帆 .
中国专利 :CN119758044B ,2025-07-04
[5]
测试方法及装置、芯片、电子设备、存储介质 [P]. 
靳全峰 ;
潘伟 ;
黄亚林 .
中国专利 :CN117749289A ,2024-03-22
[6]
芯片测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
吉润宰 ;
张琦 ;
郝学塨 .
中国专利 :CN114121139B ,2022-03-01
[7]
芯片测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
杨笑 .
中国专利 :CN117590193A ,2024-02-23
[8]
测试方法、芯片、电子设备及存储介质 [P]. 
丁文轩 ;
蔡雅平 .
中国专利 :CN115640182A ,2023-01-24
[9]
测试方法、电子设备、存储介质及芯片 [P]. 
丁高珂 .
中国专利 :CN118354063B ,2024-11-22
[10]
测试方法、电子设备、存储介质及芯片 [P]. 
丁高珂 .
中国专利 :CN118354063A ,2024-07-16