系统性能测试方法、装置、电子设备及存储介质

被引：0

申请号：

CN202211160955.4

申请日：

2022-09-22

公开(公告)号：

CN115437949A

公开(公告)日：

2022-12-06

发明(设计)人：

赵郭浩李媛媛刘志翔

申请人：

申请人地址：

100070 北京市丰台区智成北街3号院交控大厦1号楼1层101室

IPC主分类号：

G06F1136

IPC分类号：

代理机构：

北京路浩知识产权代理有限公司 11002

代理人：

郑朝然

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-12-06	公开	公开
2022-12-23	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 11/36 申请日:20220922

共 50 条

[1]

系统性能的测试方法及装置、电子设备、存储介质 [P].

汤昊 ;

陈树冰 ;

姚树泰 ;

郭茂昀 ;

张倩 ;

刘传亮 ;

甄瑞将 ;

孟静 .

中国专利 :CN120492295A ,2025-08-15

[2]

一种成像系统性能测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

伍思樾 ;

任均宇 ;

顾兆泰 ;

梁江荣 ;

谭文安 ;

李娜娜 ;

邬东升 ;

李明 ;

安昕 .

中国专利 :CN114143535B ,2022-03-04

[3]

性能测试方法、系统、电子设备及存储介质 [P].

高学军 ;

刘晨 .

中国专利 :CN117873849A ,2024-04-12

[4]

系统性能调整方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

李培锋 .

中国专利 :CN115421794A ,2022-12-02

[5]

系统性能评估方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

李海斌 ;

潘微服 ;

李华国 ;

卫平 .

中国专利 :CN119357001A ,2025-01-24

[6]

性能测试方法、性能测试装置、存储介质与电子设备 [P].

梁冬冬 .

中国专利 :CN111045911A ,2020-04-21

[7]

性能测试方法、性能测试装置、存储介质与电子设备 [P].

梁冬冬 .

中国专利 :CN111045911B ,2024-04-16

[8]

性能测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

何品德 .

中国专利 :CN112612686A ,2021-04-06

[9]

性能测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

杨欢 ;

钱嘉林 .

中国专利 :CN117785592A ,2024-03-29

[10]

性能测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

余建明 .

中国专利 :CN114338448B ,2024-02-20

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