测试过孔损耗的方法和系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201711380128.5

申请日：

2017-12-20

公开(公告)号：

CN108169574B

公开(公告)日：

2018-06-15

发明(设计)人：

张颖赵振伟陈进

申请人：

申请人地址：

610213 四川省成都市天府新区华阳街道天府大道南段846号

IPC主分类号：

G01R2726

IPC分类号：

代理机构：

北京德恒律治知识产权代理有限公司 11409

代理人：

章社杲;卢军峰

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-07-13	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 27/26 申请日:20171220
2019-01-08	专利申请权、专利权的转移	专利申请权的转移 IPC(主分类):G01R 27/26 登记生效日:20181220 变更事项:申请人变更前权利人:曙光信息产业（北京）有限公司变更后权利人:中科曙光信息产业成都有限公司变更事项:地址变更前权利人:100193 北京市海淀区东北旺西路8号院36号楼变更后权利人:610213 四川省成都市天府新区华阳街道天府大道南段846号变更事项:申请人变更后权利人:曙光信息产业（北京）有限公司
2018-06-15	公开	公开
2020-09-04	授权	授权

共 50 条

[1]

测试过孔背钻精度的测试板 [P].

张柯柯 .

中国专利 :CN206531465U ,2017-09-29

[2]

优化测试过孔排布的印刷电路板及其测试方法 [P].

刘子瑜 ;

田宝华 ;

李兵 ;

邓秋连 ;

叶操 ;

吕丽静 .

中国专利 :CN106385764A ,2017-02-08

[3]

优化测试过孔排布的印刷电路板 [P].

刘子瑜 ;

田宝华 ;

李兵 ;

邓秋连 ;

叶操 ;

吕丽静 .

中国专利 :CN206226833U ,2017-06-06

[4]

成品测试方法、测量测试系统损耗的方法、设备、介质、产品 [P].

龚妙 ;

蔡鹏 .

中国专利 :CN119471315A ,2025-02-18

[5]

成品测试方法、测量测试系统损耗的方法、设备、介质、产品 [P].

龚妙 ;

蔡鹏 .

中国专利 :CN119471315B ,2025-10-10

[6]

一种过孔损耗测量结构、方法、系统、设备及介质 [P].

梁磊 .

中国专利 :CN117062309B ,2024-01-26

[7]

测试系统和测试方法 [P].

顾佳科 ;

沈孔德 ;

黄东洲 .

中国专利 :CN121209466A ,2025-12-26

[8]

测试系统和测试方法 [P].

夏旌钧 ;

沈孔德 ;

黄东洲 .

中国专利 :CN121209465A ,2025-12-26

[9]

一种可同时测量过孔阻抗及过孔损耗的电路板 [P].

刘文敏 ;

王红飞 ;

程柳军 ;

陈蓓 .

中国专利 :CN205657907U ,2016-10-19

[10]

一种PCB设计中差分线过孔附近GND过孔检查的方法和系统 [P].

吕瑞倩 ;

付深圳 .

中国专利 :CN110377975B ,2019-10-25

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