形成硅锗外延层的方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201910174278.3
申请日
2019-03-04
公开(公告)号
CN110010551A
公开(公告)日
2019-07-12
发明(设计)人
谭俊 黄秋铭 颜强
申请人
申请人地址
201203 上海市浦东新区康桥东路298号1幢1060室
IPC主分类号
H01L218234
IPC分类号
H01L2102
代理机构
上海浦一知识产权代理有限公司 31211
代理人
郭四华
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
硅锗外延层的形成方法 [P]. 
何有丰 .
中国专利 :CN102479717B ,2012-05-30
[2]
一种形成硅锗外延层的方法 [P]. 
李东明 .
中国专利 :CN116121866B ,2025-08-05
[3]
硅锗外延层的制造方法 [P]. 
江日舜 ;
施泓林 ;
唐力原 ;
蒋天福 ;
范铭棋 ;
廖晋毅 ;
简金城 .
中国专利 :CN101170060B ,2008-04-30
[4]
一种硅锗外延层的形成方法 [P]. 
袁子凡 ;
李典 .
中国专利 :CN117976526A ,2024-05-03
[5]
锗硅外延层、其形成方法及一PMOS器件 [P]. 
陈勇跃 ;
颜强 ;
周海锋 ;
方精训 .
中国专利 :CN110400844A ,2019-11-01
[6]
提高西格玛沟槽刻蚀工艺稳定性及锗硅外延层形成的方法 [P]. 
夏军 .
中国专利 :CN110379772A ,2019-10-25
[7]
西格玛沟槽刻蚀方法、锗硅外延层的形成方法及PMOS器件 [P]. 
邱靖尧 .
中国专利 :CN110416088A ,2019-11-05
[8]
嵌入式锗硅外延层的制造方法 [P]. 
李中华 ;
李润领 .
中国专利 :CN111599762A ,2020-08-28
[9]
锗硅外延制造方法 [P]. 
郑印呈 .
中国专利 :CN108520853A ,2018-09-11
[10]
一种沟槽、锗硅外延层及PMOS器件的形成方法 [P]. 
徐伟天 .
中国专利 :CN119630049A ,2025-03-14