缺陷检测器和缺陷检测方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200410079711.9

申请日：

2004-09-17

公开(公告)号：

CN1281923C

公开(公告)日：

2005-03-23

发明(设计)人：

三田章生

申请人：

申请人地址：

日本京都府

IPC主分类号：

G01B1130

IPC分类号：

代理机构：

隆天国际知识产权代理有限公司

代理人：

经志强;潘培坤

法律状态：

专利权的终止

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-09-03	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01B 11/30 申请日:20040917 授权公告日:20061025 终止日期:20180917
2005-05-25	实质审查的生效	实质审查的生效
2005-03-23	公开	公开
2006-10-25	授权	授权

共 50 条

[1]

缺陷面积检测器及其检测方法 [P].

刁红梅 ;

赵晗 ;

吴青霞 ;

贾军 ;

王所俊 ;

任世军 ;

窦航 ;

孙长春 ;

刘玉华 ;

向东 .

中国专利 :CN107421491A ,2017-12-01

[2]

多检测器缺陷检测系统和用于检测缺陷的方法 [P].

E·莱温 ;

D·I·索梅 ;

M·佩尔曼 .

中国专利 :CN1646896A ,2005-07-27

[3]

缺陷检测方法、缺陷检测系统和缺陷检测程序 [P].

辻本翔悟 .

日本专利 :CN118202383A ,2024-06-14

[4]

缺陷检测方法和缺陷检测装置 [P].

杨航 .

中国专利 :CN117808765A ,2024-04-02

[5]

缺陷检测设备和缺陷检测方法 [P].

甘迎金 ;

李朝垒 ;

蒋耀华 ;

李凯强 ;

简活滕 ;

杨磊 ;

宗岩 ;

丁勇 ;

刘康 ;

任晓东 ;

贺宝禄 ;

刘百 ;

杨双双 ;

吴锦合 ;

张丹 .

中国专利 :CN118243697A ,2024-06-25

[6]

缺陷检测装置和缺陷检测方法 [P].

太田佳成 .

中国专利 :CN101251496A ,2008-08-27

[7]

缺陷检测装置和缺陷检测方法 [P].

中田武男 ;

太田祥之 ;

中野竜辅 .

日本专利 :CN118511070A ,2024-08-16

[8]

缺陷检测装置和缺陷检测方法 [P].

本田喜久 .

中国专利 :CN1565033A ,2005-01-12

[9]

缺陷检测方法和缺陷检测装置 [P].

李旭为 ;

李宝同 ;

李小龙 ;

王凯 ;

陆佳磊 ;

张聪 .

中国专利 :CN120259174A ,2025-07-04

[10]

缺陷检测装置和缺陷检测方法 [P].

濑户基司 ;

村上浩明 .

中国专利 :CN107064724A ,2017-08-18

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