铟镓氮晶片外延层中铟元素含量的测试方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201310116862.6
申请日
2013-04-03
公开(公告)号
CN103196850A
公开(公告)日
2013-07-10
发明(设计)人
刘运传 王雪蓉 孟祥艳 周燕萍 郑会保 魏莉萍
申请人
申请人地址
250031 山东省济南市天桥区田家庄东路3号
IPC主分类号
G01N2131
IPC分类号
代理机构
济南舜源专利事务所有限公司 37205
代理人
苗峻
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
一种铝镓氮晶片外延层中铝元素含量的测试方法 [P]. 
刘运传 ;
王雪蓉 ;
魏莉萍 ;
郑会保 ;
孟祥艳 ;
周燕萍 ;
李峙澂 .
中国专利 :CN102539357A ,2012-07-04
[2]
一种从含有镓、铟元素的废渣中回收镓、铟元素的方法 [P]. 
孙峙 ;
方升 ;
曹宏斌 ;
林晓 .
中国专利 :CN109897960A ,2019-06-18
[3]
岛状铟镓氮外延结构及其制备方法、Micro LED芯片 [P]. 
付羿 ;
周名兵 ;
郭啸 ;
程志清 .
中国专利 :CN119133330B ,2025-04-15
[4]
岛状铟镓氮外延结构及其制备方法、Micro LED芯片 [P]. 
付羿 ;
周名兵 ;
郭啸 ;
程志清 .
中国专利 :CN119133330A ,2024-12-13
[5]
铟镓氮基光电极的表面处理方法 [P]. 
邹志刚 ;
罗文俊 ;
李朝升 ;
李明雪 ;
刘斌 ;
陈敦军 ;
于涛 ;
谢自力 ;
张荣 .
中国专利 :CN102304738B ,2012-01-04
[6]
采用InxGa1-xN缓冲层生长的氮化镓和铟镓氮的方法 [P]. 
马平 ;
王军喜 ;
王国宏 ;
曾一平 ;
李晋闽 .
中国专利 :CN101924022A ,2010-12-22
[7]
一种锌、铜精矿中铟元素的含量检测方法 [P]. 
颜忠国 ;
杨绍辉 ;
李文有 ;
张粉 ;
周国彪 ;
何兴贵 .
中国专利 :CN119125113A ,2024-12-13
[8]
一种改善铟镓氮外延材料表面质量的生长方法 [P]. 
李亮 ;
罗伟科 .
中国专利 :CN103710757A ,2014-04-09
[9]
一种铟镓氮薄膜的生长方法 [P]. 
梁锋 ;
赵德刚 ;
刘宗顺 ;
朱建军 .
中国专利 :CN110335804A ,2019-10-15
[10]
铟镓氮薄膜的快速填埋生长方法 [P]. 
韩培德 ;
刘祥林 ;
王晓晖 ;
陆大成 .
中国专利 :CN1361554A ,2002-07-31