一种厚度测量装置

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专利类型
发明
申请号
CN201910631164.7
申请日
2019-07-12
公开(公告)号
CN110186412A
公开(公告)日
2019-08-30
发明(设计)人
吴翔
申请人
申请人地址
321100 浙江省金华市兰溪经济开发区江南园区23号路
IPC主分类号
G01B2108
IPC分类号
代理机构
北京信远达知识产权代理有限公司 11304
代理人
魏晓波
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[41]
一种厚度测量装置 [P]. 
黄亮 ;
李小伟 ;
钟晓华 ;
刘显斌 .
中国专利 :CN217424263U ,2022-09-13
[42]
一种厚度测量装置 [P]. 
刘海瑞 ;
周丽 .
中国专利 :CN201094011Y ,2008-07-30
[43]
一种厚度测量装置 [P]. 
朱赟杰 ;
张英强 ;
尹政豪 ;
李帮国 .
中国专利 :CN222144055U ,2024-12-10
[44]
一种厚度测量装置 [P]. 
张宏 ;
钟贤洪 ;
戴叶明 .
中国专利 :CN216348257U ,2022-04-19
[45]
一种厚度测量装置 [P]. 
王雷 ;
沈思情 ;
姚钉丁 ;
张俊宝 ;
陈猛 .
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[46]
一种厚度测量装置 [P]. 
章淦中 .
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[47]
一种厚度测量装置 [P]. 
覃斌 ;
王佳朋 ;
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[48]
一种基于双测微仪的厚度测量装置 [P]. 
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[49]
采空区厚度测量装置 [P]. 
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[50]
一种光学元器件厚度测量装置 [P]. 
赖金峰 ;
赖鹏正 ;
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