PCI测试卡及其测试方法

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专利类型
发明
申请号
CN200410093202.1
申请日
2004-12-17
公开(公告)号
CN1790286A
公开(公告)日
2006-06-21
发明(设计)人
张林 路斌 沈慧敏
申请人
申请人地址
200040上海市静安区南京西路1486号2号楼
IPC主分类号
G06F1122
IPC分类号
G01R31317
代理机构
上海翼胜专利事务所
代理人
翟羽
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
PCI测试卡及其测试方法 [P]. 
杜春艳 ;
张林 ;
王玉杰 ;
周传国 .
中国专利 :CN1713155A ,2005-12-28
[2]
PCI 接口测试卡 [P]. 
黄发生 .
中国专利 :CN101634962A ,2010-01-27
[3]
测试卡及其制作和测试方法 [P]. 
洪岗 .
中国专利 :CN113295684A ,2021-08-24
[4]
测试卡及其自动测试方法 [P]. 
孙宜阳 ;
严小兵 .
中国专利 :CN101398456A ,2009-04-01
[5]
用于PCI卡批量测试的装置 [P]. 
颜泽飞 .
中国专利 :CN1251445C ,2003-11-26
[6]
一种PCI-E测试卡 [P]. 
韩雪涛 ;
范文水 ;
闫庆烁 .
中国专利 :CN111736094B ,2020-10-02
[7]
唤醒信号测试系统及其测试卡 [P]. 
李晖 ;
李玉梅 ;
张浩 .
中国专利 :CN102809722A ,2012-12-05
[8]
探针测试卡及其制造方法 [P]. 
金庚珍 ;
徐载亨 .
韩国专利 :CN113030536B ,2024-08-02
[9]
探针测试卡及其制造方法 [P]. 
金庚珍 ;
徐载亨 .
中国专利 :CN113030536A ,2021-06-25
[10]
测试卡及应用该测试卡的主板 [P]. 
魏明涛 ;
徐奇生 ;
古松国 .
中国专利 :CN105988906B ,2016-10-05