PCI测试卡及其测试方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200410025337.4

申请日：

2004-06-22

公开(公告)号：

CN1713155A

公开(公告)日：

2005-12-28

发明(设计)人：

杜春艳张林王玉杰周传国

申请人：

申请人地址：

200040上海市南京西路1486号2号楼

IPC主分类号：

G06F1122

IPC分类号：

代理机构：

上海翼胜专利事务所

代理人：

翟羽

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2010-01-20	授权	授权
2012-08-29	专利权的终止	未缴年费专利权终止号牌文件类型代码:1605 号牌文件序号:101317112357 IPC(主分类):G06F 11/22 专利号:ZL2004100253374 申请日:20040622 授权公告日:20100120 终止日期:20110622
2005-12-28	公开	公开
2006-02-22	实质审查的生效	实质审查的生效

共 50 条

[1]

PCI测试卡及其测试方法 [P].

张林 ;

路斌 ;

沈慧敏 .

中国专利 :CN1790286A ,2006-06-21

[2]

PCI 接口测试卡 [P].

黄发生 .

中国专利 :CN101634962A ,2010-01-27

[3]

测试卡及其制作和测试方法 [P].

洪岗 .

中国专利 :CN113295684A ,2021-08-24

[4]

测试卡及其自动测试方法 [P].

孙宜阳 ;

严小兵 .

中国专利 :CN101398456A ,2009-04-01

[5]

用于PCI卡批量测试的装置 [P].

颜泽飞 .

中国专利 :CN1251445C ,2003-11-26

[6]

一种PCI-E测试卡 [P].

韩雪涛 ;

范文水 ;

闫庆烁 .

中国专利 :CN111736094B ,2020-10-02

[7]

唤醒信号测试系统及其测试卡 [P].

李晖 ;

李玉梅 ;

张浩 .

中国专利 :CN102809722A ,2012-12-05

[8]

探针测试卡及其制造方法 [P].

金庚珍 ;

徐载亨 .

韩国专利 :CN113030536B ,2024-08-02

[9]

探针测试卡及其制造方法 [P].

金庚珍 ;

徐载亨 .

中国专利 :CN113030536A ,2021-06-25

[10]

测试卡及应用该测试卡的主板 [P].

魏明涛 ;

徐奇生 ;

古松国 .

中国专利 :CN105988906B ,2016-10-05

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