X光平面检测器

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专利类型
发明
申请号
CN02140023.7
申请日
2002-09-29
公开(公告)号
CN1316634C
公开(公告)日
2003-08-27
发明(设计)人
池田光志 铃木公平 金野晃
申请人
申请人地址
日本东京都
IPC主分类号
H01L3100
IPC分类号
H01L2714 A61B600 G03B4202
代理机构
中国国际贸易促进委员会专利商标事务所
代理人
王永刚
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
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