用作低电压检测电路的带隙电压比较器

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN01104652.X

申请日：

2001-02-19

公开(公告)号：

CN1311443A

公开(公告)日：

2001-09-05

发明(设计)人：

莱顿·伊格威廉·斯米特

申请人：

申请人地址：

美国亚利桑那州

IPC主分类号：

G01R3136

IPC分类号：

G05F320

代理机构：

柳沈知识产权律师事务所

代理人：

马莹

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2001-09-05	公开	公开
2003-12-17	发明专利申请公布后的视为撤回	发明专利申请公布后的视为撤回

共 50 条

[1]

低电压检测电路 [P].

森下直人 ;

保高和夫 .

中国专利 :CN101093987A ,2007-12-26

[2]

带温度补偿的低电压检测电路 [P].

李晓 .

中国专利 :CN104483537A ,2015-04-01

[3]

低电压检测电路与包括该低电压检测电路的存储器装置 [P].

李炫哲 .

中国专利 :CN110244093B ,2019-09-17

[4]

低电压、低功率带隙电路 [P].

H.V.特兰 ;

A.利 ;

T.吴 ;

H.Q.阮 .

中国专利 :CN104067192B ,2014-09-24

[5]

低电压检测复位电路 [P].

保高和夫 .

中国专利 :CN101093988A ,2007-12-26

[6]

低电压带隙参考电路 [P].

P·卡丹卡 .

中国专利 :CN108628382A ,2018-10-09

[7]

低电压带隙参考电路 [P].

崔河琳 ;

申京旻 ;

安容星 .

韩国专利 :CN118092559A ,2024-05-28

[8]

低电压检测电路 [P].

菅野崇志 .

中国专利 :CN1956334A ,2007-05-02

[9]

改善低电压输出的比较器电路架构 [P].

叶茂祥 .

中国专利 :CN101540598A ,2009-09-23

[10]

低电压检测电路 [P].

谢明志 .

中国专利 :CN1734269A ,2006-02-15

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