一种集成电路低温测试方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201410605024.X

申请日：

2014-11-03

公开(公告)号：

CN105891696A

公开(公告)日：

2016-08-24

发明(设计)人：

武平孙昕石志刚何超

申请人：

申请人地址：

100094 北京市海淀区永丰基地丰贤中路7号孵化楼A楼二层

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

代理机构：

代理人：

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2017-01-11	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101696758409 IPC(主分类):G01R 31/28 专利申请号:201410605024X 申请日:20141103
2020-03-10	发明专利申请公布后的驳回	发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01R 31/28 申请公布日:20160824
2016-08-24	公开	公开

共 50 条

[1]

一种集成电路测试系统及方法 [P].

蔡建荣 ;

邱忠文 ;

罗俊 ;

吴兆希 ;

王翔 .

中国专利 :CN112485653A ,2021-03-12

[2]

集成电路测试方法和集成电路测试系统 [P].

张晓磊 .

中国专利 :CN114264936A ,2022-04-01

[3]

集成电路测试方法 [P].

吴明锡 .

中国专利 :CN102279356A ,2011-12-14

[4]

一种集成电路高低温测试装置 [P].

秦岭 ;

尹子建 ;

周海峰 .

中国专利 :CN108152704A ,2018-06-12

[5]

集成电路测试系统及集成电路测试系统的控制方法 [P].

徐正元 .

中国专利 :CN102854455A ,2013-01-02

[6]

集成电路测试系统的点检方法以及集成电路测试系统 [P].

金浩 ;

边垚垚 .

中国专利 :CN119926810A ,2025-05-06

[7]

集成电路测试座及集成电路测试装置 [P].

程振 ;

李志雄 ;

刘旭 ;

王平 ;

燕祖德 .

中国专利 :CN214375125U ,2021-10-08

[8]

集成电路测试的预处理集成电路 [P].

I·W·J·M·鲁特坦 .

中国专利 :CN100541216C ,2005-02-16

[9]

一种集成电路测试系统及其测试方法 [P].

余执钧 ;

邓焕 .

中国专利 :CN112834896A ,2021-05-25

[10]

一种集成电路测试系统及测试方法 [P].

朱培培 .

中国专利 :CN119303863A ,2025-01-14

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