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一种集成电路测试系统及方法

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202011269377.9
申请日：
2020-11-13
公开(公告)号：
CN112485653A
公开(公告)日：
2021-03-12
发明(设计)人：
蔡建荣 邱忠文 罗俊 吴兆希 王翔
申请人：
申请人地址：
400060 重庆市南岸区南坪花园路14号
IPC主分类号：
G01R31317
IPC分类号：
代理机构：
上海光华专利事务所(普通合伙) 31219
代理人：
李铁
法律状态：
公开
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2021-03-12 公开 公开
2021-03-30 实质审查的生效 实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/317 申请日:20201113
共 50 条
[1]
集成电路测试系统及集成电路测试系统的控制方法 [P]. 
徐正元 .
中国专利 :CN102854455A ,2013-01-02
[2]
一种集成电路低温测试方法 [P]. 
武平 ;
孙昕 ;
石志刚 ;
何超 .
中国专利 :CN105891696A ,2016-08-24
[3]
集成电路测试方法和集成电路测试系统 [P]. 
张晓磊 .
中国专利 :CN114264936A ,2022-04-01
[4]
一种集成电路测试系统 [P]. 
徐正元 .
中国专利 :CN203012088U ,2013-06-19
[5]
集成电路测试系统及测试方法 [P]. 
顾良波 ;
张志勇 ;
余琨 ;
王锦 ;
叶建明 ;
郝丹丹 .
中国专利 :CN103777131A ,2014-05-07
[6]
集成电路测试系统及测试方法 [P]. 
朱本强 .
中国专利 :CN110780184A ,2020-02-11
[7]
集成电路测试系统及方法 [P]. 
梁文山 ;
苏哲毅 .
中国专利 :CN101131409A ,2008-02-27
[8]
一种集成电路测试系统及测试方法 [P]. 
朱培培 .
中国专利 :CN119303863A ,2025-01-14
[9]
集成电路测试方法 [P]. 
吴明锡 .
中国专利 :CN102279356A ,2011-12-14
[10]
一种集成电路测试系统及方法 [P]. 
阎如斌 ;
余林聪 ;
靳荣利 ;
马晶晶 .
中国专利 :CN118566693A ,2024-08-30
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