一种集成电路测试系统及测试方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411462648.0

申请日：

2024-10-19

公开(公告)号：

CN119303863A

公开(公告)日：

2025-01-14

发明(设计)人：

朱培培

申请人：

日月新半导体（苏州）有限公司

申请人地址：

215000 江苏省苏州市工业园区苏虹西路188号

IPC主分类号：

B07C5/344

IPC分类号：

B07C5/02

代理机构：

徐州知创智行专利代理事务所(普通合伙) 32796

代理人：

徐赫隆

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

江苏省苏州市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-02-07	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):B07C 5/344申请日:20241019
2025-01-14	公开	公开

共 50 条

[1]

集成电路测试系统及测试方法 [P].

顾良波 ;

张志勇 ;

余琨 ;

王锦 ;

叶建明 ;

郝丹丹 .

中国专利 :CN103777131A ,2014-05-07

[2]

一种集成电路测试系统及其测试方法 [P].

余执钧 ;

邓焕 .

中国专利 :CN112834896A ,2021-05-25

[3]

集成电路测试系统及集成电路测试系统的控制方法 [P].

徐正元 .

中国专利 :CN102854455A ,2013-01-02

[4]

集成电路多工位测试校准方法、装置、测试机及测试系统 [P].

张春辉 ;

孙恺凡 ;

唐彩彬 ;

马锡春 ;

张凯虹 ;

陆坚 ;

奚留华 .

中国专利 :CN114779145A ,2022-07-22

[5]

一种集成电路测试系统 [P].

马云龙 ;

程莹 .

中国专利 :CN217238291U ,2022-08-19

[6]

集成电路测试系统及测试方法 [P].

朱本强 .

中国专利 :CN110780184A ,2020-02-11

[7]

一种用于测试集成电路的电路架构及集成电路测试方法 [P].

丁盛峰 ;

李志浩 ;

阮辉 .

中国专利 :CN118112397A ,2024-05-31

[8]

集成电路测试方法和集成电路测试系统 [P].

张晓磊 .

中国专利 :CN114264936A ,2022-04-01

[9]

一种多Site模式的集成电路测试方法及测试系统 [P].

张健 .

中国专利 :CN116727288B ,2025-10-17

[10]

一种集成电路测试系统 [P].

徐正元 .

中国专利 :CN203012088U ,2013-06-19

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