学术探索
学术期刊
学术作者
新闻热点
数据分析
智能评审

集成电路多工位测试校准方法、装置、测试机及测试系统

被引：0
申请号：
CN202210315911.8
申请日：
2022-03-28
公开(公告)号：
CN114779145A
公开(公告)日：
2022-07-22
发明(设计)人：
张春辉 孙恺凡 唐彩彬 马锡春 张凯虹 陆坚 奚留华
申请人：
申请人地址：
214181 江苏省无锡市惠山区惠州大道900号（城铁惠山站区）
IPC主分类号：
G01R3500
IPC分类号：
代理机构：
无锡市大为专利商标事务所(普通合伙) 32104
代理人：
陈丽丽;殷红梅
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
引用
下载
收藏
法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2022-08-09 实质审查的生效 实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 35/00 申请日:20220328
2022-07-22 公开 公开
共 50 条
[1]
集成电路测试系统及测试方法 [P]. 
顾良波 ;
张志勇 ;
余琨 ;
王锦 ;
叶建明 ;
郝丹丹 .
中国专利 :CN103777131A ,2014-05-07
[2]
一种集成电路测试系统及测试方法 [P]. 
朱培培 .
中国专利 :CN119303863A ,2025-01-14
[3]
集成电路测试系统校准用转接装置及方法 [P]. 
丁超 ;
张明虎 ;
周厚平 ;
刘倩 .
中国专利 :CN118191710A ,2024-06-14
[4]
集成电路测试系统及集成电路测试系统的控制方法 [P]. 
徐正元 .
中国专利 :CN102854455A ,2013-01-02
[5]
集成电路测试系统及测试方法 [P]. 
朱本强 .
中国专利 :CN110780184A ,2020-02-11
[6]
集成电路测试机箱 [P]. 
郭松瑜 .
中国专利 :CN309397215S ,2025-07-22
[7]
集成电路测试机箱 [P]. 
林建军 .
中国专利 :CN308776018S ,2024-08-09
[8]
集成电路测试方法和集成电路测试系统 [P]. 
张晓磊 .
中国专利 :CN114264936A ,2022-04-01
[9]
集成电路测试系统直流信号校准板、校准装置及校准方法 [P]. 
罗锦晖 ;
丁超 ;
顾翼 ;
王珩 .
中国专利 :CN114325542A ,2022-04-12
[10]
一种集成电路多工位测试平台及集成电路测试方法 [P]. 
陆敏敏 .
中国专利 :CN113092985A ,2021-07-09
12345