一种集成电路测试系统

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN201220485308.6
申请日
2012-09-21
公开(公告)号
CN203012088U
公开(公告)日
2013-06-19
发明(设计)人
徐正元
申请人
申请人地址
611731 四川省成都市高新区西芯大道4号
IPC主分类号
G01R3128
IPC分类号
G08C1702
代理机构
代理人
法律状态
授权
国省代码
引用
下载
收藏
共 50 条
[1]
集成电路测试系统及集成电路测试系统的控制方法 [P]. 
徐正元 .
中国专利 :CN102854455A ,2013-01-02
[2]
集成电路测试系统 [P]. 
叶剑文 .
中国专利 :CN207799022U ,2018-08-31
[3]
集成电路测试系统 [P]. 
祁俊华 .
中国专利 :CN207798988U ,2018-08-31
[4]
一种集成电路测试系统 [P]. 
马云龙 ;
程莹 .
中国专利 :CN217238291U ,2022-08-19
[5]
集成电路的测试系统 [P]. 
连高城 ;
叶剑文 ;
赵静一 .
中国专利 :CN208607321U ,2019-03-15
[6]
集成电路测试方法和集成电路测试系统 [P]. 
张晓磊 .
中国专利 :CN114264936A ,2022-04-01
[7]
一种集成电路测试系统及其测试方法 [P]. 
余执钧 ;
邓焕 .
中国专利 :CN112834896A ,2021-05-25
[8]
一种集成电路测试系统及测试方法 [P]. 
朱培培 .
中国专利 :CN119303863A ,2025-01-14
[9]
集成电路测试系统 [P]. 
张悦 .
中国专利 :CN210007709U ,2020-01-31
[10]
集成电路测试系统 [P]. 
祁俊华 .
中国专利 :CN108107309A ,2018-06-01