一种夹爪限位式半导体器件用测试座

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN202021383042.5
申请日
2020-07-14
公开(公告)号
CN212965268U
公开(公告)日
2021-04-13
发明(设计)人
闵哲
申请人
申请人地址
215000 江苏省苏州市工业园区唯西路23号3幢A101室
IPC主分类号
G01R3126
IPC分类号
G01R104
代理机构
苏州铭浩知识产权代理事务所(普通合伙) 32246
代理人
朱斌兵
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
半导体器件用测试座 [P]. 
杨伟 .
中国专利 :CN205595310U ,2016-09-21
[2]
一种测试精准的半导体器件用测试座 [P]. 
闵哲 .
中国专利 :CN212569023U ,2021-02-19
[3]
一种半导体器件用测试座 [P]. 
闵哲 .
中国专利 :CN212965023U ,2021-04-13
[4]
一种测试精准的半导体器件用测试座 [P]. 
闵哲 .
中国专利 :CN111707921A ,2020-09-25
[5]
一种测试精准的半导体器件用测试座 [P]. 
闵哲 .
中国专利 :CN111707921B ,2024-08-27
[6]
一种测试效果好的半导体器件用测试座 [P]. 
闵哲 .
中国专利 :CN215005492U ,2021-12-03
[7]
一种测试稳定有效的半导体器件用测试座 [P]. 
闵哲 .
中国专利 :CN215005493U ,2021-12-03
[8]
一种陶瓷嵌入定位式半导体器件用测试座 [P]. 
闵哲 .
中国专利 :CN212569022U ,2021-02-19
[9]
一种半导体器件测试座 [P]. 
黄灿荣 ;
陆建学 ;
李立 ;
刘方标 ;
易炳川 ;
冯建柏 .
中国专利 :CN221667866U ,2024-09-06
[10]
一种用于半导体器件的测试座 [P]. 
闵哲 .
中国专利 :CN213240398U ,2021-05-18