一种测试精准的半导体器件用测试座

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202010715083.8

申请日：

2020-07-23

公开(公告)号：

CN111707921B

公开(公告)日：

2024-08-27

发明(设计)人：

闵哲

申请人：

苏州朗之睿电子科技有限公司

申请人地址：

215000 江苏省苏州市工业园区唯西路23号3幢A101室

IPC主分类号：

G01R31/26

IPC分类号：

G01R1/04

代理机构：

苏州铭浩知识产权代理事务所(普通合伙) 32246

代理人：

朱斌兵

法律状态：

授权

国省代码：

江苏省苏州市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-08-27	授权	授权

共 50 条

[1]

一种测试精准的半导体器件用测试座 [P].

闵哲 .

中国专利 :CN212569023U ,2021-02-19

[2]

一种测试精准的半导体器件用测试座 [P].

闵哲 .

中国专利 :CN111707921A ,2020-09-25

[3]

一种半导体器件用测试座 [P].

闵哲 .

中国专利 :CN212965023U ,2021-04-13

[4]

半导体器件用测试座 [P].

杨伟 .

中国专利 :CN205595310U ,2016-09-21

[5]

一种测试效果好的半导体器件用测试座 [P].

闵哲 .

中国专利 :CN215005492U ,2021-12-03

[6]

一种测试稳定有效的半导体器件用测试座 [P].

闵哲 .

中国专利 :CN215005493U ,2021-12-03

[7]

一种用于半导体器件的测试座 [P].

闵哲 .

中国专利 :CN213240398U ,2021-05-18

[8]

一种夹爪限位式半导体器件用测试座 [P].

闵哲 .

中国专利 :CN212965268U ,2021-04-13

[9]

一种定位精准的半导体测试座 [P].

闵哲 .

中国专利 :CN212750838U ,2021-03-19

[10]

一种半导体器件测试座 [P].

黄灿荣 ;

陆建学 ;

李立 ;

刘方标 ;

易炳川 ;

冯建柏 .

中国专利 :CN221667866U ,2024-09-06

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