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一种测试精准的半导体器件用测试座
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202010715083.8
申请日：
2020-07-23
公开(公告)号：
CN111707921A
公开(公告)日：
2020-09-25
发明(设计)人：
闵哲
申请人：
申请人地址：
215000 江苏省苏州市工业园区唯西路23号3幢A101室
IPC主分类号：
G01R3126
IPC分类号：
G01R104
代理机构：
苏州铭浩知识产权代理事务所(普通合伙) 32246
代理人：
朱斌兵
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2020-10-27 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/26 申请日:20200723 |
| 2020-09-25 | 公开 | 公开 |