用于测量物体的各种性质的系统和方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201880063323.1

申请日：

2018-09-27

公开(公告)号：

CN111164378A

公开(公告)日：

2020-05-15

发明(设计)人：

D·迪米特

申请人：

申请人地址：

美国罗得岛州

IPC主分类号：

G01B2104

IPC分类号：

G01B1100 G01B7008 G01B5008 G01N29265

代理机构：

北京三友知识产权代理有限公司 11127

代理人：

王小东;黄纶伟

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-05-15	公开	公开
2020-06-09	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 21/04 申请日:20180927
2021-12-03	发明专利申请公布后的视为撤回	发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01B 21/04 申请公布日:20200515

共 50 条

[1]

用于确定测量物体的空间性质的方法和测量机 [P].

A.戈纳迈耶 ;

P.杰斯特 ;

F.威杜勒 .

中国专利 :CN106403839A ,2017-02-15

[2]

用于测量物体的方法 [P].

彼得·肯尼思·赫利尔 .

中国专利 :CN101467000B ,2009-06-24

[3]

用于确定测量测量物体的测量策略的方法和设备及程序 [P].

R.罗伊斯迈尔 ;

G.哈斯 ;

M.埃瑟 .

中国专利 :CN113532341A ,2021-10-22

[4]

用于确定测量测量物体的测量策略的方法和设备及程序 [P].

R.罗伊斯迈尔 ;

G.哈斯 ;

M.埃瑟 .

德国专利 :CN113532341B ,2024-03-08

[5]

用于测量物体的设备 [P].

彼得·肯尼思·赫利尔 .

中国专利 :CN102607492A ,2012-07-25

[6]

测量物体的方法和系统 [P].

史蒂文·R·海亚希 ;

李忠国 ;

凯文·G·哈丁 ;

郑建明 ;

霍华德·P·韦弗 ;

杜晓明 ;

陈田 .

中国专利 :CN101611291A ,2009-12-23

[7]

用于测量物体的光学特性的方法和系统 [P].

瓦格纳·塔瓦雷斯·布欧诺 ;

凯尚·辛格 ;

安德鲁·福布斯 ;

安吉拉·达德利 .

:CN118215834A ,2024-06-18

[8]

用于测量物体的表面形貌的方法和系统 [P].

丹尼尔·布布利兹 ;

皮特·韦斯特法尔 .

中国专利 :CN115698626A ,2023-02-03

[9]

测量物体间位姿变化的方法和系统 [P].

谈潇麟 ;

伏思华 ;

姜广文 .

中国专利 :CN115031628B ,2025-10-31

[10]

测量物体凸纹的方法和系统 [P].

A·考奥贝 ;

M·坎逖恩 ;

A·尼克蒂恩 .

中国专利 :CN1181313C ,2002-10-16

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