无线模块自测试系统及方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202110152279.5

申请日：

2021-02-03

公开(公告)号：

CN112996028A

公开(公告)日：

2021-06-18

发明(设计)人：

孙慧男黄瑞雪程文强刘晓颖

申请人：

申请人地址：

266555 山东省青岛市经济技术开发区前湾港路218号

IPC主分类号：

H04W2406

IPC分类号：

H04B17318 H04B1719 H04B1729

代理机构：

深圳市隆天联鼎知识产权代理有限公司 44232

代理人：

王苗

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-07-06	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):H04W 24/06 申请日:20210203
2021-06-18	公开	公开

共 50 条

[1]

自测试系统和用于自测试功能逻辑模块的方法 [P].

K.M.麦克尔韦恩 ;

R.B.特里梅因 ;

G.范休本 .

中国专利 :CN103853639B ,2014-06-11

[2]

芯片自测试系统及测试方法 [P].

娄锦兰 ;

陈光胜 ;

王震宇 ;

罗茗怡 .

中国专利 :CN119717772A ,2025-03-28

[3]

片上自测试系统及方法 [P].

陆明 ;

杨帆 ;

李岩 ;

周丕森 ;

肖青 ;

姜培 ;

史方 .

中国专利 :CN112630626A ,2021-04-09

[4]

自动自测试系统 [P].

R·R·塞内沙尔 ;

S·J·维尔科斯兹 .

中国专利 :CN1222239A ,1999-07-07

[5]

自测试电子组件及测试系统 [P].

J·M·巴顿 ;

S·塔赫玛赛比 ;

D·普莱特 .

中国专利 :CN1282082C ,2004-12-01

[6]

自测试电子组件及测试系统 [P].

J·M·巴顿 ;

S·塔赫玛赛比 ;

D·普莱特 .

中国专利 :CN100437507C ,2002-10-16

[7]

SRAM自测试系统、架构及方法、存储介质 [P].

方寅 .

中国专利 :CN109801665B ,2019-05-24

[8]

芯片测试电路、自测试芯片及芯片测试系统 [P].

历广绪 ;

张俊 .

中国专利 :CN115078968A ,2022-09-20

[9]

芯片测试电路、自测试芯片及芯片测试系统 [P].

历广绪 ;

张俊 .

中国专利 :CN115078968B ,2024-06-25

[10]

一种芯片老化自测试方法及系统 [P].

卜金彪 ;

王占粮 ;

王生鹏 ;

蔡斌 ;

肖青 ;

闫朋飞 ;

孙东昱 ;

姜琨 ;

何晓 .

中国专利 :CN113049939A ,2021-06-29

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