芯片自测试系统及测试方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411887834.9

申请日：

2024-12-19

公开(公告)号：

CN119717772A

公开(公告)日：

2025-03-28

发明(设计)人：

娄锦兰陈光胜王震宇罗茗怡

申请人：

上海东软载波微电子有限公司

申请人地址：

200233 上海市徐汇区古美路1515号凤凰园12号楼3F

IPC主分类号：

G05B23/02

IPC分类号：

代理机构：

北京集佳知识产权代理有限公司 11227

代理人：

李慧慧

法律状态：

公开

国省代码：

上海市市辖区

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-03-28	公开	公开
2025-04-15	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G05B 23/02申请日:20241219

共 50 条

[1]

芯片测试电路、自测试芯片及芯片测试系统 [P].

历广绪 ;

张俊 .

中国专利 :CN115078968A ,2022-09-20

[2]

芯片测试电路、自测试芯片及芯片测试系统 [P].

历广绪 ;

张俊 .

中国专利 :CN115078968B ,2024-06-25

[3]

自测试电子组件及测试系统 [P].

J·M·巴顿 ;

S·塔赫玛赛比 ;

D·普莱特 .

中国专利 :CN1282082C ,2004-12-01

[4]

自测试电子组件及测试系统 [P].

J·M·巴顿 ;

S·塔赫玛赛比 ;

D·普莱特 .

中国专利 :CN100437507C ,2002-10-16

[5]

片上自测试系统及方法 [P].

陆明 ;

杨帆 ;

李岩 ;

周丕森 ;

肖青 ;

姜培 ;

史方 .

中国专利 :CN112630626A ,2021-04-09

[6]

一种芯片老化自测试方法及系统 [P].

卜金彪 ;

王占粮 ;

王生鹏 ;

蔡斌 ;

肖青 ;

闫朋飞 ;

孙东昱 ;

姜琨 ;

何晓 .

中国专利 :CN113049939A ,2021-06-29

[7]

自动自测试系统 [P].

R·R·塞内沙尔 ;

S·J·维尔科斯兹 .

中国专利 :CN1222239A ,1999-07-07

[8]

自测试系统和用于自测试功能逻辑模块的方法 [P].

K.M.麦克尔韦恩 ;

R.B.特里梅因 ;

G.范休本 .

中国专利 :CN103853639B ,2014-06-11

[9]

无线模块自测试系统及方法 [P].

孙慧男 ;

黄瑞雪 ;

程文强 ;

刘晓颖 .

中国专利 :CN112996028A ,2021-06-18

[10]

存储器、内建自测试方法和测试系统 [P].

张瑞 .

中国专利 :CN118824336B ,2025-10-03

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