自测试系统和用于自测试功能逻辑模块的方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201310629677.7

申请日：

2013-11-29

公开(公告)号：

CN103853639B

公开(公告)日：

2014-06-11

发明(设计)人：

K.M.麦克尔韦恩 R.B.特里梅因 G.范休本

申请人：

申请人地址：

美国纽约阿芒克

IPC主分类号：

G06F1122

IPC分类号：

代理机构：

北京市柳沈律师事务所 11105

代理人：

张健

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2014-07-09	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101583605154 IPC(主分类):G06F 11/22 专利申请号:2013106296777 申请日:20131129
2014-06-11	公开	公开
2018-03-09	授权	授权

共 50 条

[1]

自动自测试系统 [P].

R·R·塞内沙尔 ;

S·J·维尔科斯兹 .

中国专利 :CN1222239A ,1999-07-07

[2]

无线模块自测试系统及方法 [P].

孙慧男 ;

黄瑞雪 ;

程文强 ;

刘晓颖 .

中国专利 :CN112996028A ,2021-06-18

[3]

芯片自测试系统及测试方法 [P].

娄锦兰 ;

陈光胜 ;

王震宇 ;

罗茗怡 .

中国专利 :CN119717772A ,2025-03-28

[4]

内置自测试电路和包括内置自测试电路的温度测量电路 [P].

申浚熙 ;

金柱成 ;

李龙珍 ;

崔炳注 ;

金光镐 ;

金赏镐 .

中国专利 :CN113049129A ,2021-06-29

[5]

内置自测试电路和包括内置自测试电路的温度测量电路 [P].

申浚熙 ;

金柱成 ;

李龙珍 ;

崔炳注 ;

金光镐 ;

金赏镐 .

韩国专利 :CN120385434A ,2025-07-29

[6]

内置自测试电路和包括内置自测试电路的温度测量电路 [P].

申浚熙 ;

金柱成 ;

李龙珍 ;

崔炳注 ;

金光镐 ;

金赏镐 .

韩国专利 :CN113049129B ,2025-05-16

[7]

自测试电子组件及测试系统 [P].

J·M·巴顿 ;

S·塔赫玛赛比 ;

D·普莱特 .

中国专利 :CN1282082C ,2004-12-01

[8]

自测试电子组件及测试系统 [P].

J·M·巴顿 ;

S·塔赫玛赛比 ;

D·普莱特 .

中国专利 :CN100437507C ,2002-10-16

[9]

自测试集成电路 [P].

T·尼古因 .

中国专利 :CN105190337A ,2015-12-23

[10]

片上自测试系统及方法 [P].

陆明 ;

杨帆 ;

李岩 ;

周丕森 ;

肖青 ;

姜培 ;

史方 .

中国专利 :CN112630626A ,2021-04-09

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