一种手动式集成电路测试装置

被引:0
申请号
CN202122945007.9
申请日
2021-11-29
公开(公告)号
CN217360163U
公开(公告)日
2022-09-02
发明(设计)人
金英杰
申请人
申请人地址
511500 广东省清远市高新区科技创新园创兴大道18号天安智谷展示服务中心自编41号
IPC主分类号
G01R3128
IPC分类号
G01R104
代理机构
广州高炬知识产权代理有限公司 44376
代理人
孔令环
法律状态
授权
国省代码
引用
下载
收藏
共 50 条
[1]
一种集成电路测试装置 [P]. 
李立 ;
黄镇生 .
中国专利 :CN201194023Y ,2009-02-11
[2]
集成电路测试装置 [P]. 
段超毅 .
中国专利 :CN2836018Y ,2006-11-08
[3]
集成电路测试装置 [P]. 
陈尚立 ;
谢林庭 .
中国专利 :CN211905590U ,2020-11-10
[4]
一种集成电路测试装置 [P]. 
邹智鹏 .
中国专利 :CN213069085U ,2021-04-27
[5]
一种集成电路测试治具和集成电路测试装置 [P]. 
周学志 ;
谢清冬 .
中国专利 :CN207067178U ,2018-03-02
[6]
集成电路测试治具和集成电路测试装置 [P]. 
王国华 ;
谢伟 .
中国专利 :CN205193228U ,2016-04-27
[7]
通用集成电路测试装置 [P]. 
段超毅 ;
陈家锋 .
中国专利 :CN204439790U ,2015-07-01
[8]
集成电路测试装置 [P]. 
王国华 ;
谢伟 .
中国专利 :CN207717928U ,2018-08-10
[9]
集成电路测试装置 [P]. 
段超毅 .
中国专利 :CN1916643A ,2007-02-21
[10]
一种集成电路测试装置 [P]. 
刘芳婷 .
中国专利 :CN207965052U ,2018-10-12