学术探索
学术期刊
学术作者
新闻热点
数据分析
智能评审
一种手动式集成电路测试装置
被引:0
申请号
:
CN202122945007.9
申请日
:
2021-11-29
公开(公告)号
:
CN217360163U
公开(公告)日
:
2022-09-02
发明(设计)人
:
金英杰
申请人
:
申请人地址
:
511500 广东省清远市高新区科技创新园创兴大道18号天安智谷展示服务中心自编41号
IPC主分类号
:
G01R3128
IPC分类号
:
G01R104
代理机构
:
广州高炬知识产权代理有限公司 44376
代理人
:
孔令环
法律状态
:
授权
国省代码
:
引用
下载
收藏
法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-09-02
授权
授权
共 50 条
[1]
一种集成电路测试装置
[P].
李立
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
李立
;
黄镇生
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
黄镇生
.
中国专利
:CN201194023Y
,2009-02-11
[2]
集成电路测试装置
[P].
段超毅
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
段超毅
.
中国专利
:CN2836018Y
,2006-11-08
[3]
集成电路测试装置
[P].
陈尚立
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
陈尚立
;
谢林庭
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
谢林庭
.
中国专利
:CN211905590U
,2020-11-10
[4]
一种集成电路测试装置
[P].
邹智鹏
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
邹智鹏
.
中国专利
:CN213069085U
,2021-04-27
[5]
一种集成电路测试治具和集成电路测试装置
[P].
周学志
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
周学志
;
谢清冬
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
谢清冬
.
中国专利
:CN207067178U
,2018-03-02
[6]
集成电路测试治具和集成电路测试装置
[P].
王国华
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王国华
;
谢伟
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
谢伟
.
中国专利
:CN205193228U
,2016-04-27
[7]
通用集成电路测试装置
[P].
段超毅
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
段超毅
;
陈家锋
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
陈家锋
.
中国专利
:CN204439790U
,2015-07-01
[8]
集成电路测试装置
[P].
王国华
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王国华
;
谢伟
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
谢伟
.
中国专利
:CN207717928U
,2018-08-10
[9]
集成电路测试装置
[P].
段超毅
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
段超毅
.
中国专利
:CN1916643A
,2007-02-21
[10]
一种集成电路测试装置
[P].
刘芳婷
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
刘芳婷
.
中国专利
:CN207965052U
,2018-10-12
←
1
2
3
4
5
→