半导体器件的形成方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201510355042.1
申请日
2015-06-24
公开(公告)号
CN106298669A
公开(公告)日
2017-01-04
发明(设计)人
黄敬勇 何其暘
申请人
申请人地址
201203 上海市浦东新区张江路18号
IPC主分类号
H01L218238
IPC分类号
代理机构
北京集佳知识产权代理有限公司 11227
代理人
吴敏
法律状态
发明专利申请公布后的驳回
国省代码
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共 50 条
[1]
半导体器件的形成方法 [P]. 
周飞 .
中国专利 :CN107919324B ,2018-04-17
[2]
半导体器件的形成方法 [P]. 
周飞 .
中国专利 :CN107785265B ,2018-03-09
[3]
半导体器件及其形成方法 [P]. 
赵猛 .
中国专利 :CN110690109A ,2020-01-14
[4]
半导体器件的形成方法 [P]. 
韩秋华 ;
蒋晓钧 ;
吴端毅 .
中国专利 :CN109841573A ,2019-06-04
[5]
半导体器件的形成方法 [P]. 
洪中山 .
中国专利 :CN103094192A ,2013-05-08
[6]
半导体器件的形成方法 [P]. 
洪中山 .
中国专利 :CN103094136B ,2013-05-08
[7]
半导体器件的形成方法 [P]. 
吴金刚 ;
倪景华 ;
黄晓辉 .
中国专利 :CN102487048B ,2012-06-06
[8]
半导体器件的形成方法 [P]. 
韩秋华 ;
纪世良 .
中国专利 :CN106298666A ,2017-01-04
[9]
半导体器件的形成方法 [P]. 
何志斌 ;
景旭斌 .
中国专利 :CN105575815A ,2016-05-11
[10]
半导体器件及其形成方法 [P]. 
洪中山 .
中国专利 :CN103426755A ,2013-12-04