单根一维纳米材料散射光谱的显微成像测量方法及装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201610016162.3

申请日：

2016-01-12

公开(公告)号：

CN105424617A

公开(公告)日：

2016-03-23

发明(设计)人：

赵建林尚武云姜碧强肖发俊

申请人：

申请人地址：

710072 陕西省西安市碑林区友谊西路127号

IPC主分类号：

G01N2127

IPC分类号：

代理机构：

代理人：

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2016-03-23	公开	公开
2018-12-25	发明专利申请公布后的视为撤回	发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01N 21/27 申请公布日:20160323
2016-04-20	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101656306773 IPC(主分类):G01N 21/27 专利申请号:2016100161623 申请日:20160112

共 50 条

[1]

一种单颗粒暗场散射光谱的测量方法及测量装置 [P].

倪卫海 ;

张恒 ;

李浩 .

中国专利 :CN121027050A ,2025-11-28

[2]

纳米颗粒90度散射光谱的测量方法 [P].

白本锋 ;

杨国策 .

中国专利 :CN105092426B ,2015-11-25

[3]

拉曼散射光谱的测量装置及拉曼散射光谱仪 [P].

韩德俊 ;

王慎远 ;

苗泉龙 .

中国专利 :CN105021281A ,2015-11-04

[4]

一种水下布里渊散射光谱测量装置及测量方法 [P].

田斌 ;

梁琨 ;

王元庆 ;

陈子豪 ;

张厶允 .

中国专利 :CN113776565A ,2021-12-10

[5]

单根一维纳米材料的测试电极的制作方法 [P].

杨海方 ;

刘立伟 ;

金爱子 ;

顾长志 ;

吕力 .

中国专利 :CN100437120C ,2006-05-31

[6]

一维纳米材料薄膜的密度测量方法及密度均匀性检测方法 [P].

韩杰 .

中国专利 :CN109813628A ,2019-05-28

[7]

一种单根一维纳米材料光致荧光角度分辨测量系统 [P].

高旻 ;

程睿 ;

李文亮 .

中国专利 :CN101672783A ,2010-03-17

[8]

单根一维纳米材料的测试电极及其制作方法 [P].

杨海方 ;

刘立伟 ;

金爱子 ;

顾长志 ;

吕力 .

中国专利 :CN1603807A ,2005-04-06

[9]

一种一维纳米材料界面结合能的测量方法 [P].

陈小明 ;

李浩 ;

邵金友 ;

丁鹏 ;

叶世博 ;

田洪淼 .

中国专利 :CN109725177B ,2019-05-07

[10]

一种散射光声-共焦荧光双模同时显微成像的方法及装置 [P].

吴泳波 ;

唐志列 ;

吴丽如 ;

黄敏芳 .

中国专利 :CN103983578B ,2014-08-13

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