相关光学和带电粒子显微镜

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201510040069.1

申请日：

2015-01-27

公开(公告)号：

CN104810230B

公开(公告)日：

2015-07-29

发明(设计)人：

B.布伊斯塞

申请人：

申请人地址：

美国俄勒冈州

IPC主分类号：

H01J3722

IPC分类号：

H01J3726

代理机构：

中国专利代理(香港)有限公司 72001

代理人：

王岳;姜甜

法律状态：

公开

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2015-07-29	公开	公开
2017-03-08	授权	授权
2016-04-20	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101656896903 IPC(主分类):H01J 37/22 专利申请号:2015100400691 申请日:20150127

共 50 条

[1]

带电粒子线显微镜以及该带电粒子显微镜的控制方法 [P].

千野肇 ;

绵引胜 ;

岩谷彻 .

中国专利 :CN102668014A ,2012-09-12

[2]

显微镜系统和操作带电粒子显微镜的方法 [P].

S·比恩 ;

R·罗兰 ;

S·希斯 .

中国专利 :CN102543638B ,2012-07-04

[3]

扫描带电粒子显微镜图像的高画质化方法和扫描带电粒子显微镜装置 [P].

中平健治 ;

田中麻纪 .

中国专利 :CN105981129A ,2016-09-28

[4]

具有带电粒子检测器的带电粒子显微镜 [P].

E·弗兰肯 ;

T·瓦斯洛特 ;

B·詹森 .

美国专利 :CN120809561A ,2025-10-17

[5]

用于检查标本的带电粒子显微镜和确定所述带电粒子显微镜的像差的方法 [P].

L.图玛 .

美国专利 :CN111243928B ,2025-07-29

[6]

用于检查标本的带电粒子显微镜和确定所述带电粒子显微镜的像差的方法 [P].

L.图玛 .

中国专利 :CN111243928A ,2020-06-05

[7]

用于校准扫描带电粒子显微镜的方法 [P].

H·A·迪伦 ;

W·T·特尔 ;

W·L·范迈罗 .

:CN113228222B ,2024-12-31

[8]

用于校准扫描带电粒子显微镜的方法 [P].

H·A·迪伦 ;

W·T·特尔 ;

W·L·范迈罗 .

中国专利 :CN113228222A ,2021-08-06

[9]

用于带电粒子显微镜的方法及系统 [P].

D·马斯纳盖蒂 ;

G·托特 ;

D·特雷斯 ;

R·博特罗 ;

G·H·陈 ;

R·克尼彭迈耶 .

中国专利 :CN111261481B ,2020-06-09

[10]

用于带电粒子显微镜的保护快门 [P].

P·布伦达奇 .

中国专利 :CN115579271A ,2023-01-06

← 1 2 3 4 5 →