基于改进测试向量集的部分扫描的扫描单元的设计方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201110191557.4

申请日：

2011-07-08

公开(公告)号：

CN102323538A

公开(公告)日：

2012-01-18

发明(设计)人：

俞洋杨智明乔立岩王帅邓立宝王继业

申请人：

申请人地址：

150001 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号

IPC主分类号：

G01R313181

IPC分类号：

G01R313185

代理机构：

哈尔滨市松花江专利商标事务所 23109

代理人：

张宏威

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2012-03-14	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101197914470 IPC(主分类):G01R 31/3181 专利申请号:2011101915574 申请日:20110708
2015-09-02	专利权的终止	未缴年费专利权终止号牌文件类型代码:1605 号牌文件序号:101623046784 IPC(主分类):G01R 31/3181 专利号:ZL2011101915574 申请日:20110708 授权公告日:20130911 终止日期:20140708
2013-09-11	授权	授权
2012-01-18	公开	公开

共 50 条

[1]

一种改进扫描链单元及基于该改进扫描链单元和时钟控制逻辑的在线测试方法 [P].

俞洋 ;

彭喜元 ;

彭宇 ;

王帅 ;

王继业 .

中国专利 :CN102353893A ,2012-02-15

[2]

基于扫描森林结构的扫描测试方法 [P].

向东 ;

孙家广 ;

陈明静 ;

顾珊 .

中国专利 :CN1267739C ,2004-07-14

[3]

基于扫描链结构的测试向量自动生成方法 [P].

钱静洁 .

中国专利 :CN113435152A ,2021-09-24

[4]

一种改进扫描链单元及基于该单元的非并发测试方法 [P].

俞洋 ;

杨智明 ;

付宁 ;

王帅 ;

乔立岩 ;

彭喜元 .

中国专利 :CN102043122B ,2011-05-04

[5]

基于扫描测试的多个SRAM的内建自测试方法 [P].

袁东风 ;

仝红红 ;

苗全 ;

黄权 ;

杨刚强 ;

徐祥桐 .

中国专利 :CN101996687A ,2011-03-30

[6]

SERDES应用中基于扫描的测试设计 [P].

钱浩立 ;

戴逸飞 ;

孙瑞清 .

中国专利 :CN109863413B ,2019-06-07

[7]

具有扫描设计可测试性性能的非扫描设计测试点结构 [P].

向东 .

中国专利 :CN1440069A ,2003-09-03

[8]

扫描单元、扫描链结构以及确定扫描链结构的方法 [P].

许超 ;

高国重 ;

陈华军 ;

卢新元 .

中国专利 :CN109375094B ,2019-02-22

[9]

延迟故障的测试向量集的生成方法 [P].

向东 ;

陈振 .

中国专利 :CN102323539A ,2012-01-18

[10]

扫描链及其设计方法和基于扫描链的串行扫描复位方法 [P].

刘勋 ;

张倬 .

中国专利 :CN112684327A ,2021-04-20

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