具有扫描设计可测试性性能的非扫描设计测试点结构

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN02100686.5

申请日：

2002-02-22

公开(公告)号：

CN1440069A

公开(公告)日：

2003-09-03

发明(设计)人：

向东

申请人：

申请人地址：

100084北京100084－82信箱

IPC主分类号：

H01L2182

IPC分类号：

H01L2700

代理机构：

代理人：

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2003-11-19	实质审查的生效	实质审查的生效
2003-09-03	公开	公开
2007-06-27	发明专利申请公布后的驳回	发明专利申请公布后的驳回
2002-06-05	实质审查的生效	实质审查的生效

共 50 条

[1]

降低非扫描可测试性设计管脚开销的方法 [P].

向东 ;

孙家广 .

中国专利 :CN1182577C ,2003-03-26

[2]

基于扫描森林结构的扫描测试方法 [P].

向东 ;

孙家广 ;

陈明静 ;

顾珊 .

中国专利 :CN1267739C ,2004-07-14

[3]

利用扫描链自身保护芯片的安全可测试性设计结构 [P].

王伟征 ;

蔡烁 ;

王威 .

中国专利 :CN115618431A ,2023-01-17

[4]

边界扫描设计环境下一种安全的密码芯片可测试性设计结构 [P].

王伟征 ;

王威 ;

蔡烁 .

中国专利 :CN110020558A ,2019-07-16

[5]

基于改进测试向量集的部分扫描的扫描单元的设计方法 [P].

俞洋 ;

杨智明 ;

乔立岩 ;

王帅 ;

邓立宝 ;

王继业 .

中国专利 :CN102323538A ,2012-01-18

[6]

用于可配置扫描架构的测试设计优化器 [P].

R·卡普尔 ;

J·塞基阿 ;

R·宇普鲁里 ;

P·诺蒂雅斯 ;

T·费尔南德斯 ;

S·库尔卡尔尼 ;

A·安巴兰 .

中国专利 :CN101815951A ,2010-08-25

[7]

用于为集成电路设计形成基于扫描的测试设计的系统 [P].

R·卡普尔 ;

J·塞基阿 ;

R·宇普鲁里 ;

P·诺蒂雅斯 ;

T·费尔南德斯 ;

S·库尔卡尔尼 ;

A·安巴兰 .

中国专利 :CN201837703U ,2011-05-18

[8]

可测试性设计微探针 [P].

徐放 .

中国专利 :CN103926521A ,2014-07-16

[9]

可测试性设计微探针 [P].

徐放 .

中国专利 :CN101622545A ,2010-01-06

[10]

用于低功耗集成电路可测性扫描设计的二维扫描树结构 [P].

孙义和 ;

徐磊 ;

陈弘毅 .

中国专利 :CN1305112A ,2001-07-25

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