可测试性设计微探针

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201410123228.X

申请日：

2008-02-20

公开(公告)号：

CN103926521A

公开(公告)日：

2014-07-16

发明(设计)人：

徐放

申请人：

申请人地址：

美国马萨诸塞州

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

代理机构：

中原信达知识产权代理有限责任公司 11219

代理人：

戚传江;穆德骏

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2014-08-13	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101584399450 IPC(主分类):G01R 31/28 专利申请号:201410123228X 申请日:20080220
2018-03-27	发明专利申请公布后的驳回	发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01R 31/28 申请公布日:20140716
2014-07-16	公开	公开

共 50 条

[1]

可测试性设计微探针 [P].

徐放 .

中国专利 :CN101622545A ,2010-01-06

[2]

芯片及其可测试性设计方法、装置 [P].

肖斌 .

中国专利 :CN111737944A ,2020-10-02

[3]

面向可测试性设计的SoC缓存测试方法 [P].

李艳婷 .

中国专利 :CN119375664B ,2025-07-25

[4]

面向可测试性设计的SoC缓存测试方法 [P].

李艳婷 .

中国专利 :CN119375664A ,2025-01-28

[5]

一种芯片的可测试性设计方法 [P].

田泽 ;

郭蒙 ;

蔡叶芳 ;

李攀 ;

杨海波 .

中国专利 :CN102081689B ,2011-06-01

[6]

用例生成方法及装置、测试方法、可测试性设计方法 [P].

高维 ;

李晨 ;

肖珂 .

中国专利 :CN113609804A ,2021-11-05

[7]

测试控制电路及方法、可测试性设计芯片、电子设备 [P].

刘东 ;

熊立双 .

中国专利 :CN117761518A ,2024-03-26

[8]

基于测试授权验证的低开销加密芯片可测试性设计结构 [P].

王伟征 ;

邓卓 ;

蔡烁 .

中国专利 :CN111898150A ,2020-11-06

[9]

可测试性设计的适应性微电子电路的应用 [P].

L·科斯基宁 ;

N·古普塔 ;

J·西蒙森 .

:CN112969927B ,2024-07-19

[10]

可测试性设计的适应性微电子电路的应用 [P].

L·科斯基宁 ;

N·古普塔 ;

J·西蒙森 .

中国专利 :CN112969927A ,2021-06-15

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