面向可测试性设计的SoC缓存测试方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411378401.0

申请日：

2024-09-30

公开(公告)号：

CN119375664A

公开(公告)日：

2025-01-28

发明(设计)人：

李艳婷

申请人：

兆讯恒达科技股份有限公司

申请人地址：

100080 北京市海淀区苏州街20号院2号楼四层北侧

IPC主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

代理机构：

北京汲智翼成知识产权代理事务所(普通合伙) 11381

代理人：

陈曦;贾兴昌

法律状态：

授权

国省代码：

北京市市辖区

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-07-25	授权	授权
2025-02-21	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/28申请日:20240930
2025-01-28	公开	公开

共 50 条

[1]

面向可测试性设计的SoC缓存测试方法 [P].

李艳婷 .

中国专利 :CN119375664B ,2025-07-25

[2]

可测试性设计微探针 [P].

徐放 .

中国专利 :CN103926521A ,2014-07-16

[3]

可测试性设计微探针 [P].

徐放 .

中国专利 :CN101622545A ,2010-01-06

[4]

芯片及其可测试性设计方法、装置 [P].

肖斌 .

中国专利 :CN111737944A ,2020-10-02

[5]

一种芯片的可测试性设计方法 [P].

田泽 ;

郭蒙 ;

蔡叶芳 ;

李攀 ;

杨海波 .

中国专利 :CN102081689B ,2011-06-01

[6]

用例生成方法及装置、测试方法、可测试性设计方法 [P].

高维 ;

李晨 ;

肖珂 .

中国专利 :CN113609804A ,2021-11-05

[7]

芯片的可测试性设计架构、芯片测试方法、芯片和终端设备 [P].

李太东 .

中国专利 :CN117849572A ,2024-04-09

[8]

一种安全的加密芯片可测试性设计结构 [P].

王伟征 ;

蔡烁 .

中国专利 :CN109188246A ,2019-01-11

[9]

测试控制电路及方法、可测试性设计芯片、电子设备 [P].

刘东 ;

熊立双 .

中国专利 :CN117761518A ,2024-03-26

[10]

基于测试授权验证的低开销加密芯片可测试性设计结构 [P].

王伟征 ;

邓卓 ;

蔡烁 .

中国专利 :CN111898150A ,2020-11-06

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