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边界扫描设计环境下一种安全的密码芯片可测试性设计结构

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN201910278520.1
申请日：
2019-04-09
公开(公告)号：
CN110020558A
公开(公告)日：
2019-07-16
发明(设计)人：
王伟征 王威 蔡烁
申请人：
申请人地址：
410114 湖南省长沙市天心区万家丽南路2段960号
IPC主分类号：
G06F2175
IPC分类号：
H04L900 H04L906 H04L908
代理机构：
代理人：
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2019-08-09 实质审查的生效 实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 21/75 申请日:20190409
2019-07-16 公开 公开
共 50 条
[1]
一种安全的加密芯片可测试性设计结构 [P]. 
王伟征 ;
蔡烁 .
中国专利 :CN109188246A ,2019-01-11
[2]
利用扫描链自身保护芯片的安全可测试性设计结构 [P]. 
王伟征 ;
蔡烁 ;
王威 .
中国专利 :CN115618431A ,2023-01-17
[3]
一种芯片的可测试性设计方法 [P]. 
田泽 ;
郭蒙 ;
蔡叶芳 ;
李攀 ;
杨海波 .
中国专利 :CN102081689B ,2011-06-01
[4]
芯片及其可测试性设计方法、装置 [P]. 
肖斌 .
中国专利 :CN111737944A ,2020-10-02
[5]
具有扫描设计可测试性性能的非扫描设计测试点结构 [P]. 
向东 .
中国专利 :CN1440069A ,2003-09-03
[6]
基于测试授权验证的低开销加密芯片可测试性设计结构 [P]. 
王伟征 ;
邓卓 ;
蔡烁 .
中国专利 :CN111898150A ,2020-11-06
[7]
芯片的可测试性设计架构、芯片测试方法、芯片和终端设备 [P]. 
李太东 .
中国专利 :CN117849572A ,2024-04-09
[8]
测试控制电路及方法、可测试性设计芯片、电子设备 [P]. 
刘东 ;
熊立双 .
中国专利 :CN117761518A ,2024-03-26
[9]
降低非扫描可测试性设计管脚开销的方法 [P]. 
向东 ;
孙家广 .
中国专利 :CN1182577C ,2003-03-26
[10]
面向可测试性设计的SoC缓存测试方法 [P]. 
李艳婷 .
中国专利 :CN119375664B ,2025-07-25
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