SERDES应用中基于扫描的测试设计

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201680083103.6

申请日：

2016-05-20

公开(公告)号：

CN109863413B

公开(公告)日：

2019-06-07

发明(设计)人：

钱浩立戴逸飞孙瑞清

申请人：

申请人地址：

开曼群岛大开曼岛

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

代理机构：

上海专利商标事务所有限公司 31100

代理人：

金红莲;钱慰民

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-07-02	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20160520
2022-03-25	授权	授权
2019-06-07	公开	公开

共 50 条

[1]

基于改进测试向量集的部分扫描的扫描单元的设计方法 [P].

俞洋 ;

杨智明 ;

乔立岩 ;

王帅 ;

邓立宝 ;

王继业 .

中国专利 :CN102323538A ,2012-01-18

[2]

具有分区扫描链的集成电路的扫描测试中的增强控制 [P].

A·D·黑尔斯 ;

S·K·纳基蒂 ;

R·A·帕雷克吉 ;

S·拉维 ;

R·K·蒂瓦里 .

中国专利 :CN102576050A ,2012-07-11

[3]

基于压缩的扫描测试系统 [P].

S·杰恩 ;

S·帕塔克 ;

P·辛格 .

:CN119024145A ,2024-11-26

[4]

SoC测试中基于进化计算的扫描链平衡方法 [P].

朱爱军 ;

李智 ;

许川佩 .

中国专利 :CN103217642A ,2013-07-24

[5]

SoC测试中的基于平均值余量的测试封装扫描链平衡方法 [P].

俞洋 ;

彭宇 ;

杨智明 ;

陈叶富 ;

邓立宝 ;

彭喜元 .

中国专利 :CN102156258B ,2011-08-17

[6]

扫描链及其设计方法和基于扫描链的串行扫描复位方法 [P].

刘勋 ;

张倬 .

中国专利 :CN112684327A ,2021-04-20

[7]

物理设计中基于双向优先选择的扫描链重构方法与装置 [P].

刘榜 ;

刘渤海 .

中国专利 :CN102054078A ,2011-05-11

[8]

基于扫描测试的多个SRAM的内建自测试方法 [P].

袁东风 ;

仝红红 ;

苗全 ;

黄权 ;

杨刚强 ;

徐祥桐 .

中国专利 :CN101996687A ,2011-03-30

[9]

基于扫描混淆的加密芯片安全测试方法 [P].

王伟征 ;

王威 ;

蔡烁 .

中国专利 :CN109633422A ,2019-04-16

[10]

基于电路分割的低功耗扫描测试方法 [P].

陈进 ;

杜敏 ;

郭筝 .

中国专利 :CN1737599A ,2006-02-22

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