小功率单向双向可控硅测试装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201320878249.3

申请日：

2013-12-29

公开(公告)号：

CN203881900U

公开(公告)日：

2014-10-15

发明(设计)人：

王志

申请人：

申请人地址：

233000 安徽省蚌埠市经开区西航校黄金花园6号楼四单元

IPC主分类号：

G01R3126

IPC分类号：

代理机构：

代理人：

法律状态：

专利权的终止

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2016-02-24	专利权的终止	未缴年费专利权终止号牌文件类型代码:1605 号牌文件序号:101647551819 IPC(主分类):G01R 31/26 专利号:ZL2013208782493 申请日:20131229 授权公告日:20141015 终止日期:20141229
2014-10-15	授权	授权

共 50 条

[1]

小功率单向双向可控硅测试装置 [P].

王志 .

中国专利 :CN103698683A ,2014-04-02

[2]

一种双向可控硅测试装置 [P].

李勋 ;

郭斌 ;

郭兴 ;

董少杰 ;

尚彦君 ;

曹磊 ;

刘清 ;

邬燕萍 ;

杨超亚 ;

王换小 .

中国专利 :CN222825634U ,2025-05-02

[3]

复用小功率可控硅检测仪 [P].

李国彪 .

中国专利 :CN202171637U ,2012-03-21

[4]

可控硅测试装置 [P].

卢铭 ;

韦并东 ;

卢桥 .

中国专利 :CN207799016U ,2018-08-31

[5]

可控硅测试装置 [P].

卢铭 ;

韦并东 ;

卢桥 .

中国专利 :CN108303631A ,2018-07-20

[6]

可控硅测试装置 [P].

滕波 .

中国专利 :CN101581755B ,2009-11-18

[7]

双向可控硅模块 [P].

高宽洙 .

韩国专利 :CN113597819B ,2024-01-30

[8]

双向可控硅模块 [P].

高宽洙 .

中国专利 :CN113597819A ,2021-11-02

[9]

双向可控硅 [P].

李永慎 ;

冯子源 .

中国专利 :CN2671130Y ,2005-01-12

[10]

一种双向可控硅自动测试装置 [P].

何秋生 ;

黄峰荣 ;

杨斌 .

中国专利 :CN215415144U ,2022-01-04

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