一种测试机校准方法、校准装置及测试机

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专利类型
发明
申请号
CN202111450654.0
申请日
2021-11-30
公开(公告)号
CN114184994A
公开(公告)日
2022-03-15
发明(设计)人
袁绩 常远
申请人
申请人地址
215000 江苏省苏州市工业园区独墅湖科教创新区创苑路188号
IPC主分类号
G01R3502
IPC分类号
代理机构
北京品源专利代理有限公司 11332
代理人
倪焱
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
测试机模拟信号校准装置及测试机 [P]. 
刘青贺 ;
顾小龙 .
中国专利 :CN223139828U ,2025-07-22
[2]
一种校准装置及测试机 [P]. 
袁绩 ;
常远 .
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[3]
校准电路、校准板及测试机 [P]. 
孙权 ;
叶金成 .
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[4]
芯片测试机的校准方法及校准装置 [P]. 
刘飞 ;
董亚明 ;
金晓彬 ;
季成 ;
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[5]
半导体测试机校准装置 [P]. 
王武林 .
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[6]
电源校准装置和测试机 [P]. 
钟锋浩 ;
李甫 ;
胡刚 ;
刘奉鑫 .
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[7]
半导体测试机校准装置 [P]. 
王浩 ;
王刚 ;
程尧 ;
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[8]
立式转矩波动测试机校准装置及方法 [P]. 
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[9]
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魏津 ;
张经祥 ;
燕南 ;
胡雪原 .
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[10]
测试机AC校准方法及系统 [P]. 
魏津 ;
张经祥 ;
燕南 ;
胡雪原 .
中国专利 :CN115494440B ,2025-06-03