测试机AC校准方法及系统

被引：0

申请号：

CN202211310328.4

申请日：

2022-10-25

公开(公告)号：

CN115494440A

公开(公告)日：

2022-12-20

发明(设计)人：

魏津张经祥燕南胡雪原

申请人：

申请人地址：

201799 上海市青浦区华浦路480号1幢1层103室

IPC主分类号：

G01R3500

IPC分类号：

代理机构：

苏州市中南伟业知识产权代理事务所(普通合伙) 32257

代理人：

李柏柏

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2023-01-03	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 35/00 申请日:20221025
2022-12-20	公开	公开

共 50 条

[1]

测试机AC校准方法及系统 [P].

魏津 ;

张经祥 ;

燕南 ;

胡雪原 .

中国专利 :CN115494440B ,2025-06-03

[2]

一种测试机校准方法、校准装置及测试机 [P].

袁绩 ;

常远 .

中国专利 :CN114184994A ,2022-03-15

[3]

校准电路、校准板及测试机 [P].

孙权 ;

叶金成 .

中国专利 :CN221883866U ,2024-10-22

[4]

测试机模拟信号校准装置及测试机 [P].

刘青贺 ;

顾小龙 .

中国专利 :CN223139828U ,2025-07-22

[5]

集成电路多工位测试校准方法、装置、测试机及测试系统 [P].

张春辉 ;

孙恺凡 ;

唐彩彬 ;

马锡春 ;

张凯虹 ;

陆坚 ;

奚留华 .

中国专利 :CN114779145A ,2022-07-22

[6]

测试机及测试系统 [P].

居宁 ;

张晓彤 .

中国专利 :CN218213317U ,2023-01-03

[7]

测试机的校准校验系统、校准校验方法及电子设备 [P].

王晓斌 ;

马彦斌 .

中国专利 :CN117388787A ,2024-01-12

[8]

测试机及测试系统 [P].

许应 ;

谭湘 ;

李洪 ;

王林旺 .

中国专利 :CN217360011U ,2022-09-02

[9]

立式转矩波动测试机校准装置及方法 [P].

叶昌鑫 ;

陈沧毅 ;

胡中骥 .

中国专利 :CN118961052A ,2024-11-15

[10]

芯片测试机的自动校准方法及装置 [P].

顾军 ;

张熙瑞 ;

衡星 .

中国专利 :CN117310453B ,2024-02-13

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