一种校准装置及测试机

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申请号
CN202122972603.6
申请日
2021-11-30
公开(公告)号
CN216560968U
公开(公告)日
2022-05-17
发明(设计)人
袁绩 常远
申请人
申请人地址
215000 江苏省苏州市工业园区独墅湖科教创新区创苑路188号
IPC主分类号
G01R3502
IPC分类号
代理机构
北京品源专利代理有限公司 11332
代理人
薛学娜
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
一种测试机校准方法、校准装置及测试机 [P]. 
袁绩 ;
常远 .
中国专利 :CN114184994A ,2022-03-15
[2]
一种半导体测试机校准装置 [P]. 
刘静 ;
陈伟 .
中国专利 :CN213903772U ,2021-08-06
[3]
一种半导体测试机校准装置 [P]. 
李维繁星 .
中国专利 :CN218298502U ,2023-01-13
[4]
一种半导体测试机校准装置 [P]. 
张绪龙 ;
王智超 ;
李翔宇 .
中国专利 :CN223727977U ,2025-12-26
[5]
一种半导体测试机校准装置 [P]. 
沈红星 ;
李北印 ;
陈泳宇 .
中国专利 :CN220894513U ,2024-05-03
[6]
一种半导体测试机校准装置 [P]. 
杨斌 ;
黄峰荣 ;
何亮 ;
曾绍娟 .
中国专利 :CN217820804U ,2022-11-15
[7]
测试机模拟信号校准装置及测试机 [P]. 
刘青贺 ;
顾小龙 .
中国专利 :CN223139828U ,2025-07-22
[8]
半导体测试机校准装置 [P]. 
王武林 .
中国专利 :CN209460389U ,2019-10-01
[9]
半导体测试机校准装置 [P]. 
王浩 ;
王刚 ;
程尧 ;
张伟 .
中国专利 :CN207473074U ,2018-06-08
[10]
一种对测试机进行校准的装置 [P]. 
孙俊华 ;
倪江雄 ;
陈蛟 .
中国专利 :CN217278779U ,2022-08-23