一种半导体晶片磨边工艺

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201610528101.5
申请日
2016-07-06
公开(公告)号
CN106057646B
公开(公告)日
2016-10-26
发明(设计)人
吴晓桂 朱刘 刘留
申请人
申请人地址
511500 广东省清远市高新区百嘉工业园27-9号B区
IPC主分类号
H01L2102
IPC分类号
代理机构
北京集佳知识产权代理有限公司 11227
代理人
李海建
法律状态
专利申请权、专利权的转移
国省代码
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共 50 条
[1]
一种半导体晶片磨边装置 [P]. 
胡诚 .
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[2]
一种半导体晶片磨边装置 [P]. 
许同 .
中国专利 :CN112223001A ,2021-01-15
[3]
一种半导体晶片磨边机 [P]. 
夏正浩 .
中国专利 :CN220699104U ,2024-04-02
[4]
半导体晶片及制造半导体晶片的工艺 [P]. 
鲁道夫·鲁普 ;
维尔纳·艾格纳 ;
弗里德里希·帕塞克 .
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[5]
半导体晶片、半导体工艺和半导体封装 [P]. 
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[6]
半导体晶片切割工艺 [P]. 
M·M·戴 ;
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[7]
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汪良恩 ;
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[8]
半导体晶片切割工艺 [P]. 
M·M·戴 ;
S·B·卡祖米 .
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[9]
一种半导体晶片加工用的磨边装置 [P]. 
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[10]
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孔凡伟 ;
彭朝 ;
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孙宏辉 ;
王秀锦 ;
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