锁存器的自测试电路及其自测试方法

被引：0

申请号：

CN202110071284.3

申请日：

2021-01-19

公开(公告)号：

CN114460447A

公开(公告)日：

2022-05-10

发明(设计)人：

李颖

申请人：

申请人地址：

201210 上海市浦东新区祥科路111号2幢6楼

IPC主分类号：

G01R31317

IPC分类号：

代理机构：

北京华睿卓成知识产权代理事务所(普通合伙) 11436

代理人：

彭武

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-05-27	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/317 申请日:20210119
2022-05-10	公开	公开

共 50 条

[1]

内存芯片自测试电路和内存芯片自测试方法 [P].

古城 ;

王晓阳 ;

何亚军 .

中国专利 :CN117524287A ,2024-02-06

[2]

内存芯片自测试电路和内存芯片自测试方法 [P].

古城 ;

王晓阳 ;

何亚军 .

中国专利 :CN117524287B ,2024-03-22

[3]

一种低功耗扫描自测试电路以及自测试方法 [P].

向东 ;

刘博 .

中国专利 :CN106546907B ,2017-03-29

[4]

具有内部自测试的电路 [P].

J·诺勒斯 ;

G·迪舍尔 ;

W·加特纳 .

中国专利 :CN1347503A ,2002-05-01

[5]

电子电路内装自测试的方法 [P].

O·克尼夫勒 ;

G·迪舍尔 .

中国专利 :CN1251244C ,2002-04-10

[6]

SRAM读取时间自测试电路 [P].

拜福君 .

中国专利 :CN203799671U ,2014-08-27

[7]

确定最小操作电压的自测试电路 [P].

瓦格迪·W·阿巴迪尔 ;

乔治·M·布雷塞拉斯 ;

安东尼·R·博纳西奥 ;

凯文·W·戈尔曼 .

中国专利 :CN101176009A ,2008-05-07

[8]

逻辑内建自测试系统 [P].

唐飞 .

中国专利 :CN102565685A ,2012-07-11

[9]

一种DMA自测试电路 [P].

张荣华 ;

田泽 ;

郭亮 ;

刘浩 ;

张亮 .

中国专利 :CN108226741B ,2018-06-29

[10]

SRAM读取时间自测试电路及测试方法 [P].

拜福君 .

中国专利 :CN103886913A ,2014-06-25

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