SRAM读取时间自测试电路

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201420152047.5

申请日：

2014-03-31

公开(公告)号：

CN203799671U

公开(公告)日：

2014-08-27

发明(设计)人：

拜福君

申请人：

申请人地址：

710055 陕西省西安市高新6路38号腾飞创新中心A座4层

IPC主分类号：

G11C2908

IPC分类号：

代理机构：

西安西交通盛知识产权代理有限责任公司 61217

代理人：

王萌

法律状态：

专利权的终止

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-03-19	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G11C 29/08 申请日:20140331 授权公告日:20140827 终止日期:20180331
2014-08-27	授权	授权

共 50 条

[1]

SRAM读取时间自测试电路及测试方法 [P].

拜福君 .

中国专利 :CN103886913A ,2014-06-25

[2]

锁存器的自测试电路及其自测试方法 [P].

李颖 .

中国专利 :CN114460447A ,2022-05-10

[3]

内存芯片自测试电路和内存芯片自测试方法 [P].

古城 ;

王晓阳 ;

何亚军 .

中国专利 :CN117524287A ,2024-02-06

[4]

内存芯片自测试电路和内存芯片自测试方法 [P].

古城 ;

王晓阳 ;

何亚军 .

中国专利 :CN117524287B ,2024-03-22

[5]

一种低功耗扫描自测试电路以及自测试方法 [P].

向东 ;

刘博 .

中国专利 :CN106546907B ,2017-03-29

[6]

一种DMA自测试电路 [P].

张荣华 ;

田泽 ;

郭亮 ;

刘浩 ;

张亮 .

中国专利 :CN108226741B ,2018-06-29

[7]

一种激励自测试电路 [P].

董妍 ;

王炳文 ;

解文涛 ;

李亚锋 ;

索晓杰 ;

周勇 .

中国专利 :CN108089053A ,2018-05-29

[8]

并行输入/输出自测试电路和方法 [P].

G·P·克里什南 ;

E·瓦德拉马尼 ;

T·S·蒙代 .

中国专利 :CN101213520A ,2008-07-02

[9]

自测试电路和集成电路IC设备 [P].

N·埃里科 ;

A·坎诺内 ;

E·费拉拉 ;

L·潘达礼 .

:CN222232882U ,2024-12-24

[10]

生成自测试信号的电路和系统 [P].

G·迈尔拉罗 ;

A·斯库德里 ;

A·布鲁诺 ;

S·斯卡夏诺斯 .

中国专利 :CN207399217U ,2018-05-22

← 1 2 3 4 5 →