SRAM读取时间自测试电路及测试方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201410126143.7

申请日：

2014-03-31

公开(公告)号：

CN103886913A

公开(公告)日：

2014-06-25

发明(设计)人：

拜福君

申请人：

申请人地址：

710055 陕西省西安市高新6路38号腾飞创新中心A座4层

IPC主分类号：

G11C2908

IPC分类号：

代理机构：

西安西交通盛知识产权代理有限责任公司 61217

代理人：

王萌

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2014-06-25	公开	公开
2016-09-14	授权	授权
2016-08-10	著录事项变更	著录事项变更号牌文件类型代码:1602 号牌文件序号:101737035874 IPC(主分类):G11C 29/08 专利申请号:2014101261437 变更事项:申请人变更前:西安华芯半导体有限公司变更后:西安紫光国芯半导体有限公司变更事项:地址变更前:710055 陕西省西安市高新6路38号腾飞创新中心A座4层变更后:710055 陕西省西安市高新6路38号腾飞创新中心A座4层
2014-07-16	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101583893472 IPC(主分类):G11C 29/08 专利申请号:2014101261437 申请日:20140331

共 50 条

[1]

SRAM读取时间自测试电路 [P].

拜福君 .

中国专利 :CN203799671U ,2014-08-27

[2]

锁存器的自测试电路及其自测试方法 [P].

李颖 .

中国专利 :CN114460447A ,2022-05-10

[3]

内存芯片自测试电路和内存芯片自测试方法 [P].

古城 ;

王晓阳 ;

何亚军 .

中国专利 :CN117524287A ,2024-02-06

[4]

内存芯片自测试电路和内存芯片自测试方法 [P].

古城 ;

王晓阳 ;

何亚军 .

中国专利 :CN117524287B ,2024-03-22

[5]

一种低功耗扫描自测试电路以及自测试方法 [P].

向东 ;

刘博 .

中国专利 :CN106546907B ,2017-03-29

[6]

集成电路内建自测试所需测试向量的生成电路及方法 [P].

涂吉 ;

王子龙 ;

李立健 .

中国专利 :CN104122497A ,2014-10-29

[7]

并行输入/输出自测试电路和方法 [P].

G·P·克里什南 ;

E·瓦德拉马尼 ;

T·S·蒙代 .

中国专利 :CN101213520A ,2008-07-02

[8]

电子电路内装自测试的方法 [P].

O·克尼夫勒 ;

G·迪舍尔 .

中国专利 :CN1251244C ,2002-04-10

[9]

一种DMA自测试电路 [P].

张荣华 ;

田泽 ;

郭亮 ;

刘浩 ;

张亮 .

中国专利 :CN108226741B ,2018-06-29

[10]

一种激励自测试电路 [P].

董妍 ;

王炳文 ;

解文涛 ;

李亚锋 ;

索晓杰 ;

周勇 .

中国专利 :CN108089053A ,2018-05-29

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