一种激励自测试电路

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201711186787.5

申请日：

2017-11-23

公开(公告)号：

CN108089053A

公开(公告)日：

2018-05-29

发明(设计)人：

董妍王炳文解文涛李亚锋索晓杰周勇

申请人：

申请人地址：

710000 陕西省西安市锦业二路15号

IPC主分类号：

G01R2302

IPC分类号：

代理机构：

中国航空专利中心 11008

代理人：

杜永保

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-05-29	公开	公开
2020-02-14	授权	授权
2018-06-22	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 23/02 申请日:20171123

共 50 条

[1]

一种低功耗扫描自测试电路以及自测试方法 [P].

向东 ;

刘博 .

中国专利 :CN106546907B ,2017-03-29

[2]

一种DMA自测试电路 [P].

张荣华 ;

田泽 ;

郭亮 ;

刘浩 ;

张亮 .

中国专利 :CN108226741B ,2018-06-29

[3]

锁存器的自测试电路及其自测试方法 [P].

李颖 .

中国专利 :CN114460447A ,2022-05-10

[4]

内存芯片自测试电路和内存芯片自测试方法 [P].

古城 ;

王晓阳 ;

何亚军 .

中国专利 :CN117524287A ,2024-02-06

[5]

内存芯片自测试电路和内存芯片自测试方法 [P].

古城 ;

王晓阳 ;

何亚军 .

中国专利 :CN117524287B ,2024-03-22

[6]

SRAM读取时间自测试电路 [P].

拜福君 .

中国专利 :CN203799671U ,2014-08-27

[7]

一种开关信号采集自测试电路 [P].

周春海 ;

赖茜 ;

彭建敏 ;

潘攀 ;

王益民 ;

陈景黄 .

中国专利 :CN111007391A ,2020-04-14

[8]

自测试电路和集成电路IC设备 [P].

N·埃里科 ;

A·坎诺内 ;

E·费拉拉 ;

L·潘达礼 .

:CN222232882U ,2024-12-24

[9]

SRAM读取时间自测试电路及测试方法 [P].

拜福君 .

中国专利 :CN103886913A ,2014-06-25

[10]

电子电路内装自测试的方法 [P].

O·克尼夫勒 ;

G·迪舍尔 .

中国专利 :CN1251244C ,2002-04-10

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