用于同时测试多个被测设备的测试系统和方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201610082679.2

申请日：

2016-02-05

公开(公告)号：

CN106559148A

公开(公告)日：

2017-04-05

发明(设计)人：

托马斯·卢茨延斯·福尔克曼弗朗茨·奥伯迈尔

申请人：

申请人地址：

德国慕尼黑

IPC主分类号：

H04B1715

IPC分类号：

H04B1729

代理机构：

北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291

代理人：

黄志华;何月华

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-07-27	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):H04B 17/15 申请日:20160205
2022-07-01	发明专利申请公布后的驳回	发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):H04B 17/15 申请公布日:20170405
2017-04-05	公开	公开

共 50 条

[1]

用于测试多个被测设备的测试系统 [P].

唐锋 ;

张华峰 ;

徐素珍 .

中国专利 :CN114374631B ,2024-11-22

[2]

用于测试多个被测设备的测试系统 [P].

唐锋 ;

张华峰 ;

徐素珍 .

中国专利 :CN114374631A ,2022-04-19

[3]

用于测试被测设备的测试系统和方法 [P].

巴里斯·盖泽拉斯兰 ;

多米尼克·海蒂希 ;

马格达莱纳·波尔曼 ;

布莱达·卡拉贾尼 ;

艾德里安·卡达尔达-加西亚 ;

库尔特·卢帕 ;

马提亚斯·鲁特曼 .

中国专利 :CN112905398A ,2021-06-04

[4]

用于测试被测设备的方法和测试系统 [P].

沃尔夫冈·德莱塞 ;

亚历山大·罗斯 ;

弗洛里安·拉米安 .

中国专利 :CN113300787A ,2021-08-24

[5]

用于测试被测设备的方法和测试系统 [P].

沃尔夫冈·德莱塞 ;

亚历山大·罗斯 ;

弗洛里安·拉米安 .

德国专利 :CN113300787B ,2024-10-18

[6]

存储器测试系统和多个被测设备存储器的同时测试方法 [P].

迈克·侯赛因·阿米迪 .

中国专利 :CN118016141A ,2024-05-10

[7]

用于对被测设备执行微放电测试的测试系统以及用于测试被测设备的方法 [P].

马哈茂德·纳西夫 .

中国专利 :CN108375703B ,2018-08-07

[8]

用于测试被测设备的系统和方法 [P].

S·肖尔 .

德国专利 :CN120474636A ,2025-08-12

[9]

存储器测试设备和多个被测设备的并行测试方法 [P].

迈克·侯赛因·阿米迪 .

中国专利 :CN118016137A ,2024-05-10

[10]

被测体测试系统、被测体测试方法和被测体测试程序 [P].

川添宽 .

日本专利 :CN120418627A ,2025-08-01

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