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用于测试被测设备的测试系统和方法

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202011407677.9
申请日：
2020-12-03
公开(公告)号：
CN112905398A
公开(公告)日：
2021-06-04
发明(设计)人：
巴里斯·盖泽拉斯兰 多米尼克·海蒂希 马格达莱纳·波尔曼 布莱达·卡拉贾尼 艾德里安·卡达尔达-加西亚 库尔特·卢帕 马提亚斯·鲁特曼
申请人：
申请人地址：
德国慕尼黑
IPC主分类号：
G06F1122
IPC分类号：
H04B1715 H04B1729
代理机构：
北京品源专利代理有限公司 11332
代理人：
谭营营;胡彬
法律状态：
公开
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2021-06-04 公开 公开
共 50 条
[1]
用于测试被测设备的方法和测试系统 [P]. 
沃尔夫冈·德莱塞 ;
亚历山大·罗斯 ;
弗洛里安·拉米安 .
中国专利 :CN113300787A ,2021-08-24
[2]
用于测试被测设备的方法和测试系统 [P]. 
沃尔夫冈·德莱塞 ;
亚历山大·罗斯 ;
弗洛里安·拉米安 .
德国专利 :CN113300787B ,2024-10-18
[3]
用于同时测试多个被测设备的测试系统和方法 [P]. 
托马斯·卢茨 ;
延斯·福尔克曼 ;
弗朗茨·奥伯迈尔 .
中国专利 :CN106559148A ,2017-04-05
[4]
用于测试多个被测设备的测试系统 [P]. 
唐锋 ;
张华峰 ;
徐素珍 .
中国专利 :CN114374631B ,2024-11-22
[5]
用于测试多个被测设备的测试系统 [P]. 
唐锋 ;
张华峰 ;
徐素珍 .
中国专利 :CN114374631A ,2022-04-19
[6]
用于对被测设备执行微放电测试的测试系统以及用于测试被测设备的方法 [P]. 
马哈茂德·纳西夫 .
中国专利 :CN108375703B ,2018-08-07
[7]
用于测试被测设备的系统和方法 [P]. 
S·肖尔 .
德国专利 :CN120474636A ,2025-08-12
[8]
被测体测试系统、被测体测试方法和被测体测试程序 [P]. 
川添宽 .
日本专利 :CN120418627A ,2025-08-01
[9]
用于测试受测设备的测试系统和方法 [P]. 
科比特·罗威尔 ;
亨德里克·巴尔特科 ;
亚当·坦凯伦 .
中国专利 :CN107979424A ,2018-05-01
[10]
用于测试被测设备的测试插座 [P]. 
郑永倍 .
中国专利 :CN111208323B ,2020-05-29
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