用于测试多个被测设备的测试系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202210010573.7

申请日：

2022-01-05

公开(公告)号：

CN114374631B

公开(公告)日：

2024-11-22

发明(设计)人：

唐锋张华峰徐素珍

申请人：

安波福电子(苏州)有限公司

申请人地址：

215126 江苏省苏州市苏州工业园区长阳街123号

IPC主分类号：

H04L43/50

IPC分类号：

H04L61/50 H04L61/5046 H04L12/40 G06F13/40

代理机构：

上海专利商标事务所有限公司 31100

代理人：

周全;钱慰民

法律状态：

授权

国省代码：

江苏省苏州市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-11-22	授权	授权

共 50 条

[1]

用于测试多个被测设备的测试系统 [P].

唐锋 ;

张华峰 ;

徐素珍 .

中国专利 :CN114374631A ,2022-04-19

[2]

用于同时测试多个被测设备的测试系统和方法 [P].

托马斯·卢茨 ;

延斯·福尔克曼 ;

弗朗茨·奥伯迈尔 .

中国专利 :CN106559148A ,2017-04-05

[3]

用于测试被测设备的测试系统和方法 [P].

巴里斯·盖泽拉斯兰 ;

多米尼克·海蒂希 ;

马格达莱纳·波尔曼 ;

布莱达·卡拉贾尼 ;

艾德里安·卡达尔达-加西亚 ;

库尔特·卢帕 ;

马提亚斯·鲁特曼 .

中国专利 :CN112905398A ,2021-06-04

[4]

用于测试被测设备的方法和测试系统 [P].

沃尔夫冈·德莱塞 ;

亚历山大·罗斯 ;

弗洛里安·拉米安 .

中国专利 :CN113300787A ,2021-08-24

[5]

用于测试被测设备的方法和测试系统 [P].

沃尔夫冈·德莱塞 ;

亚历山大·罗斯 ;

弗洛里安·拉米安 .

德国专利 :CN113300787B ,2024-10-18

[6]

用于对被测设备执行微放电测试的测试系统以及用于测试被测设备的方法 [P].

马哈茂德·纳西夫 .

中国专利 :CN108375703B ,2018-08-07

[7]

用于测试被测设备的测试插座 [P].

郑永倍 .

中国专利 :CN111208323B ,2020-05-29

[8]

存储器测试设备和多个被测设备的并行测试方法 [P].

迈克·侯赛因·阿米迪 .

中国专利 :CN118016137A ,2024-05-10

[9]

用于测试被测设备的系统和方法 [P].

S·肖尔 .

德国专利 :CN120474636A ,2025-08-12

[10]

存储器测试系统和多个被测设备存储器的同时测试方法 [P].

迈克·侯赛因·阿米迪 .

中国专利 :CN118016141A ,2024-05-10

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